[发明专利]一种基于稀土掺杂TiO2薄膜的电致发光器件及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201510044205.4 申请日: 2015-01-29
公开(公告)号: CN104735833A 公开(公告)日: 2015-06-24
发明(设计)人: 马向阳;朱辰;杨德仁 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: H05B33/22 分类号: H05B33/22;H05B33/14;H05B33/10
代理公司: 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 代理人: 胡红娟
地址: 310027 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 稀土 掺杂 tio2 薄膜 电致发光 器件 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种基于稀土掺杂TiO2薄膜的电致发光器件,包括硅衬底、发光层以及第一电极层和第二电极层,所述发光层为掺杂Tm、Er或Eu的TiO2薄膜,其特征在于,所述硅衬底和发光层之间设有SiO2薄膜。

2.根据权利要求1所述基于稀土掺杂TiO2薄膜的电致发光器件,其特征在于,所述SiO2薄膜的厚度为5~30nm。

3.根据权利要求1所述基于稀土掺杂TiO2薄膜的电致发光器件,其特征在于,所述发光层的厚度为60~150nm。

4.根据权利要求1所述基于稀土掺杂TiO2薄膜的电致发光器件,其特征在于,所述发光层的掺杂浓度为:0.5~2%。

5.根据权利要求1所述基于稀土掺杂TiO2薄膜的电致发光器件,其特征在于,其特征在于,所述硅衬底为N型或P型<100>硅片。

6.根据权利要求1所述基于稀土掺杂TiO2薄膜的电致发光器件的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:在硅衬底正面通过热氧化法制备SiO2薄膜;由下向上依次在SiO2薄膜上通过磁控溅射法沉积掺杂Tm、Er或Eu的TiO2薄膜和直流溅射法沉积第一电极层;在硅衬底背面通过直流溅射法沉积第二电极层。

7.根据权利要求6所述的制备方法,其特征在于,热氧化的温度为1100℃,处理6~14min。

8.根据权利要求1~5任一项所述基于稀土掺杂TiO2薄膜的电致发光器件的发光方法,其特征在于,在第一电极层和第二电极层之间施加8.0~9.0伏特的电压。

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