[发明专利]一种形位公差测量方法

权利要求书

1.一种形位公差测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一：校正检测平台和设置在检测平台上移动的检测架体，并将待测工件的模型设置在PC机内；

步骤二：校正所述检测架体的内侧面上设置的与待测工件的待测部位相对应的图像采集系统和测距系统，并将校正后的信息存储在PC机内，且所有图像采集系统和测距系统与PC机通讯；

步骤三：所述图像采集系统获取待测部位的图像信息，并记录检测架体的位移，所述图像信息和位移传输至PC机内，并在所述PC机内与所述检测架体、检测平台、待测工件的模型标定在一个三维坐标系下进行处理，用于判断待测工件的对称度和工件上的安装孔的精度；

步骤四：每个所述测距系统偏心旋转至少一次获取与其相对应的待测部位的多组测距数据，并将所述多组测距数据传输至PC机，在PC机内标定在所述三维坐标系下进行数据处理，用于判断该待测部位的垂直度；

步骤五：更换同类型的待测部件时，重复执行步骤三至步骤四；更换不同类型的待测部件时，在步骤一中，将更换的待侧部件的模型设置在PC机内，并重复执行步骤三至步骤四。

2.根据权利要求1所述的形位公差测量方法，其特征在于，还包括：

步骤六：在所述PC机内建立数据库，将所述步骤三或步骤四中处理后的信息储存在该数据库中，并按照预定的方式判断处理后的信息的合格性和不合格性，且将不合格的信息进行标注。

3.根据权利要求1所述的形位公差测量方法，其特征在于，所述步骤二中，所述检测架体的内侧面上设置的与待测工件的待测部位相对应的图像采集系统和测距系统，分布在所述检测架体上的一对相对的侧壁上和顶部的内侧上，其中，分布在顶部的内侧上的图像采集系统和测距系统在所述顶部的一端至另一端之间运动，并在所述检测架体的顶部设置有记录位移量的光栅尺。

4.根据权利要求1所述的形位公差测量方法，其特征在于，所述步骤三中，所述图像信息和位移传输至PC机内，并在所述PC机内与检测架体、检测平台、待测工件的模型标定在一个三维坐标系下进行处理的方式为：将所述图像采集系统的校正信息、图像信息和待测工件的模型在一个三维坐标系下进行比对处理，确定所述待测工件的基准线，判断所述待测工件的对称度；若某一个待测部位上设置有安装孔，识别该待测部位的图像信息，计算处所述安装孔的孔径，并根据获取该待测部位的图像信息时检测架体的位移，计算出所述安装孔的相对孔距，得到所述安装孔的精度。

5.根据权利要求1所述的形位公差测量方法，其特征在于，所述步骤四中，每个测距系统偏心旋转所获取与其相对应的待测部位的多组测距数据传输至PC机，且在PC机内标定在所述三维坐标系下进行数据处理的方式为：每个测距系统的旋转路径为平滑的曲线，将每个测距系统偏心旋转所获取的与其相对应的待测部位的多组测距数据在所述三维坐标系下拟合为曲线，若该曲线平滑则待测部位平整，若该曲线出现凸起或凹陷的情形则该待测部位不平整；针对不平整的待测部位，根据测距系统测量的距离计算出不平整的待测部位的垂直度。

6.根据权利要求1所述的形位公差测量方法，其特征在于，所述步骤二中，校正所述检测架体的内侧面上设置的与待测工件的待测部位相对应的图像采集系统和测距系统的方式为：检测架体的内侧面上设置的与待测工件的待测部位相对应的图像采集系统和测距系统与所述检测架体固接，所述待测工件活动的设置在所述检测平台上，并通过放置在所述检测平台上的基准垫块调节待测工件的高度，以使放置在检测平台上的待测工件的侧部与图像采集系统和测距系统水平对应设置。

7.根据权利要求1所述的形位公差测量方法，其特征在于，所述步骤二中，所述校正后的信息包括：所述图像采集系统相对于检测平台的安装距离和相对于检测架体的安装角度；所述测距系统相对于检测平台的安装距离和相对于检测架体的安装角度。