[发明专利]一种宽温度范围红外线测温仪的精度校准方法

说明书

技术领域

本发明是关于红外线测温仪的，特别涉一种–40℃～+70℃宽温度范围的红外线测温仪的精度校准方法，以达到测量精度±1℃的要求。

背景技术

红外测温仪具有响应时间短、测量温度范围宽、测量精度高的特点，在物体表面温度测量领域中有着广泛的应用。温度的变化会使内部产生很大的应力而发生材料疲劳，从而影响的使用寿命，通过现场准确测试温度的变化，对于研究使用寿命及材料老化蜕变性能具有重要意义。

目前的非接触式红外线温度测温仪，虽然能在–40℃～+70℃环境下测量高温和低温，测试结果准确，但其响应速度慢，响应时间甚至长达几十秒，给研究人员现场数据采集带来极大的不便。目前商品化的普通非接触式红外温度测温仪的工作温度范围(0℃～50℃)和测试温度范围不完全相同，虽然一些市售红外温度测温仪能在0℃～50℃工作温度下测试–18℃～+250℃的温源，但当这种温度测试仪在50℃以上高温和0℃以下低温环境中工作时，表现为测试误差较大而超出精度要求，很显然这种测温仪不能完全满足–40℃～+70℃环境下精确测温的需要。

本发明能够完全满足–40℃～+70℃环境下精确测温的需要，能为严酷温度环境下的温度数据采集提供合适的快速、准确的测量工具。

发明内容

本发明的目的，是在现有技术的非接触式红外线温度测温仪的基础上，克服该测温仪工作温度范围小的缺点，提供一种响应速度快、极大地提高温度数据采集效率、且能够满足–40℃～+70℃工作环境的非接触式红外测温仪。

本发明通过如下技术方案予以实现。

一种宽温度范围红外线测温仪的精度校准方法，具有如下步骤：

(1)基于测量结果，根据最小二乘法确定函数模型以及各个温度范围的校正系数；

测试时，对目标物体的同一平面选取n个不同位置进行测量，取n次测量的平均值y作为校准的依据，然后利用最小二乘法进行拟合；根据测量平均值的特点，可将测试平均值Y与真实温度X表示为如下矩阵的形式。

X=x0x1...xk,Y‾=y0‾y1‾...yk‾]]>

假设在温度区间[x_m，x_n]上的拟合函数为则通过测试值和真实温度x求出校正系数A和B。

对于由矩阵运算法则可得：

ym‾=Axm+B]]>