[发明专利]一种电子能量损失谱数据包批处理方法

说明书

技术领域

本发明属于透射电镜及电子能量损谱领域，涉及一种电子能量损失谱数据包批处理方法。

背景技术

随着科学界对材料微观结构分析的深入，透射电子显微镜在科学研究中的作用越来越显著，透射电镜及能损谱仪器的发展使得实验中获取电子能量损失谱数据包成为可能，而针对透射电镜采集的数据进行处理也就越来越成为科研工作的重要内容之一。在透射电子显微镜领域，电子能量损失谱(简称“能损谱”)是新兴的一种微观分析技术，它可以通过精确测量电子同材料作用后损失的能量来获得材料的种类，成分，化合价态，配位数等等信息。但是由于能损谱不仅对透射电镜样品制备要求很高，而且对于数据的采集，处理都需要大量的时间，精力，对于解释图谱也需要了解比一般分析技术更多的物理知识，因此其应用的广泛性远远比不上普通透射电镜。目前能损谱仪器的生产厂家比较少，其科研人员主要致力于改善能损谱的硬件系统，对于软件的开发，数据的处理等科学领域内的研究十分稀少。因此在国内外相关领域的科学家为了节省实验或者数据处理的时间，开始逐渐研发一些单凭透射电镜或者能损谱仪器无法实现的功能，简单的比如删除图像中的噪点，复杂的可以控制电镜部件收集各类不同信号等等，但是电子能量损失谱数据包的批量处理还处于空白状态，传统的电子能量损失谱数据包的批处理是通过手动完成的，处理速度慢，并且处理的精度不高。

发明内容

本发明的目的在于克服上述现有技术的缺点，提供了一种电子能量损失谱数据包批处理方法，该处理方法可以自动的完成对电子能量损失谱数据包的批处理，并且处理速度块，处理精度高。

为达到上述目的，本发明所述的电子能量损失谱数据包批处理方法包括以下步骤：

1)预设电子能量损失谱数据的范围，指定需要批处理的电子能量损失谱数据包，再从指定的电子能量损失谱数据包中依次读取电子能量损失谱数据，然后依次对电子能量损失谱数据进行二次求导，并获得求导后的各电子能量损失谱数据对应的谱线；

2)删除求导后各电子能量损失谱数据对应的谱线中负值的部分，检测求导后各电子能量损失谱数据对应的谱线中最高的两个峰值A1及A2，然后计算求导后得到各电子能量损失谱数据对应的谱线中最高的两个峰值A1及A2的比值A3；

3)按照各电子能量损失谱数据在电子能量损失谱数据包中的排列顺序显示求导后各电子能量损失谱数据对应的比值A3。

还包括按照各能量电子损失数据在电子能量损失谱数据包中的排列顺序显示求导后各电子能量损失谱数据对应谱线中最高的两个峰值A1及A2在谱线上的位置。

所述电子能量损失谱数据包为二维电子能量损失谱数据包或三维电子能量损失谱数据包。

当所述电子能量损失谱数据包为二维电子能量损失谱数据包时，各电子能量损失谱数据在电子能量损失谱数据包中按自上到下依次排列。

当所述电子能量损失数据谱包为三维电子能量损失谱数据包时，各电子能量损失谱数据在电子能量损失谱数据包中按从左到右、自上到下依次排列。

A3＝A1/A2。

A3＝A2/A1。

本发明具有以下有益效果：

本发明所述的电子能量损失谱数据包批处理方法在对电子能量损失谱数据包进行批处理时，通过对待处理的电子能量损失谱数据包中的电子能量损失谱数据依次进行二次求导，获得求导后各电子能量损失谱数据对应的谱线，然后计算求导后各谱线上最高的两个峰值的比值，再根据各电子能量损失谱数据在电子能量损失谱数据包中的排列顺序显示求导后各谱线上最高的两个峰值的比值，从而实现对电子能量损失谱数据包的自动批处理，处理速度快，精度高，并且简化了数据处理工作流程，减轻了科研工作者后期处理数据的工作量。

附图说明

图1为实施例一中电子能量损失谱线的示意图；

图2为实施例一中电子能量损失谱数据包的示意图；

图3为实施例一批处理结果的示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明做进一步详细描述：

本发明所述的电子能量损失谱数据包批处理方法包括以下步骤：

1)预设电子能量损失谱数据的范围，指定需要批处理的电子能量损失谱数据包，再从指定的电子能量损失谱数据包中依次读取电子能量损失谱数据，然后依次对电子能量损失谱数据进行二次求导，获得求导后各电子能量损失谱数据对应的谱线；