[发明专利]一种面板引线检测装置及检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种面板引线检测装置及检测方法。

背景技术

在薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，TFT-LCD)的每个面板(Panel)的设计中，采用线扫描的方式对Panel中的每一个像素进行驱动。同一行/列的TFT薄膜晶体管由同一根栅极(Gate)/数据(Date)线驱动，Gate/Date线交互导通便能精确控制每一个像素。每一行/列的信号线向Panel边缘引出，便形成了panel引线区，如图1所示，Date线10的引线组成Date引线区13，Gate线11的引线组成Gate引线区14，panel引线区包括Date引线区13和Gate引线区14；Date线10和Gate线11之间的交叉区域为像素区域12，Date引线区13和Gate引线区14中的引线密集排布，最终与Panel的驱动电路相连。

在实际生产过程中，panel引线区中的引线难免会出现异常，如：相邻引线之间导通，或引线断开。当panel引线区中的引线出现异常时，将会导致Panel中某一行/列的像素不能正常显示，会对Panel品质有极大的影响。

为了提高Panel品质，现有技术一般通过镜头可移动的显微镜检测panel引线区中的引线，在具体检测过程中需要人为手动移动显微镜的镜头，并且在移动的过程中需要人为观察panel引线区中的引线是否存在断路、短路或异物等异常。

综上所述，现有技术panel引线区中的引线不良检测及修复过程中，由于检测panel引线区中的引线时需要手动巡线，故检测效率较低，且检测的误差较大，进而对Panel品质有极大的影响。

发明内容

本发明实施例提供了一种面板引线检测装置及检测方法，用以在检测引线时实现自动巡线，提高引线检测效率，降低引线检测误差。

本发明实施例提供的一种面板引线检测装置，所述装置包括：

检测镜头，用于对面板引线区中每一根待检测引线的外观进行检测；

光发射装置，用于当检测镜头移动时，发出照射待检测引线的检测光，所述检测光的光斑直径为预先设置的，使得该光斑在面板引线区中的正投影覆盖的待检测引线中仅包括一条待检测引线；

光接收装置，用于搜集所述检测光经过待检测引线作用后的测试光线，测试所述测试光线的强度值，将测试光线的强度值与预先设置的初始强度值进行比较，若测试光线的强度值与所述初始强度值不相等，确定面板引线区中的待检测引线存在异常，否则，确定面板引线区中的待检测引线正常；

移动控制器，用于当确定面板引线区中的待检测引线正常时，接收控制信号控制所述检测镜头按照预先设定的移动方向和移动步长移动一个步长，否则，控制所述检测镜头不移动。

由本发明实施例提供的面板引线检测装置，由于该检测装置包括检测镜头、光发射装置、光接收装置和移动控制器，光接收装置用于搜集光发射装置发出的检测光经过待检测引线作用后的测试光线，测试所述测试光线的强度值，将测试光线的强度值与预先设置的测试光线的初始强度值进行比较，若测试光线的强度值与所述初始强度值不相等，确定面板引线区中的待检测引线存在异常，否则，确定面板引线区中的引线正常；移动控制器，用于当确定面板引线区中的引线正常时，接收控制信号控制所述检测镜头按照预先设定的移动方向和移动步长移动一个步长，否则，控制所述检测镜头不移动，因此，本发明实施例中的检测装置与现有技术相比，能够实现自动移动，提高了引线检测效率，降低了引线检测误差。

较佳地，所述检测镜头为显微镜镜头。

这样，当将检测镜头设置为显微镜镜头时，在实际检测过程中更加简单、方便。

较佳地，所述光发射装置为红外线发射装置，或，所述光发射装置为激光发射装置。

这样，光发射装置既可以为红外线发射装置，也可以为激光发射装置，在实际选择时更加灵活。

较佳地，所述光发射装置与所述光接收装置位于待检测面板的不同侧，或，所述光发射装置与所述光接收装置位于待检测面板的同一侧。

这样，可以提高光发射装置与光接收装置设置的灵活性。

较佳地，当所述光发射装置与所述光接收装置位于待检测面板的不同侧时，光斑的直径d满足：L0<d<L1，其中：L0为待检测引线的宽度，L1为相邻两条待检测引线之间的距离。

这样，若光发射装置与光接收装置位于待检测面板的不同侧，当光斑的直径d满足：L0<d<L1时，检测装置能够更好的搜集到测试光线。