[其他]用于测量电导体中的电流的孔中电流测量系统有效

专利信息
申请号: 201490001139.1 申请日: 2014-03-26
公开(公告)号: CN206505114U 公开(公告)日: 2017-09-19
发明(设计)人: A.佩察尔斯基;B.B.潘特 申请(专利权)人: 霍尼韦尔国际公司
主分类号: G01R15/20 分类号: G01R15/20;G01R19/165
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 叶菲,王传道
地址: 美国新*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 用于 测量 导体 中的 电流 系统
【权利要求书】:

1.一种用于测量电导体中的电流的孔中电流测量系统,所述孔中电流测量系统包括:

被配置成插入到电导体(1105)中的孔(1115)中的四个或更多磁场传感器(205),每个传感器操作成响应于传感器位置处的磁场强度而在输出处生成信号,其中所述四个或更多磁场传感器当被插入到孔中时在这样的轴上对准:所述轴被配置以装配成其中至少所对准的轴的分量垂直于电导体中的电流方向;以及

杂散抑制电流测量模块(500),其耦合到所述四个或更多磁场传感器中每一个的输出以接收每个传感器的相应信号,所述信号表示每个传感器的相应位置处的磁场强度,并且通过使用所接收的信号和传感器位置来计算沿着所对准的轴的测量位置处的磁场强度的奇数阶空间导数,其中测量位置处的磁场强度的经计算的奇数阶空间导数表示电流的度量。

2.根据权利要求1所述的孔中电流测量系统,其中所述四个或更多的磁场传感器被对准使得它们沿着所对准的轴基本上是共线的。

3.根据权利要求1所述的孔中电流测量系统,其中四个或更多磁场传感器中的每一个当被插入到电导体中的孔中时具有被对准成垂直于所对准的轴和电流方向二者的磁敏性方向。

4.根据权利要求1所述的孔中电流测量系统,其中所述四个或更多磁场传感器在公共的半导体衬底上。

5.根据权利要求1所述的孔中电流测量系统,其中所述奇数阶空间导数的阶大于一。

6.根据权利要求1所述的孔中电流测量系统,其中所述四个或更多磁场传感器中的每一个包括各向异性磁阻传感器。

7.根据权利要求6所述的孔中电流测量系统,其中各向异性磁阻传感器中的每一个包括坡莫合金的薄膜。

8.根据权利要求7所述的孔中电流测量系统,此外包括各向异性磁阻设置/重置模块(1360)以用于将坡莫合金薄膜的磁畴对准成平行于易轴。

9.根据权利要求1所述的孔中电流测量系统,此外包括:

选择模块,其耦合到每个传感器的输出以接收每个传感器的相应信号,所述信号表示传感器位置处的磁场强度;

控制模块(1350),其操作成控制选择器模块以在预定干扰事件的经调度时间处选择磁场传感器的子集,并且使得被调度成接收与预定干扰事件相关联的干扰的未选择的磁场传感器的集合在预定干扰事件的经调度时间处被取消选择;以及

连续测量模块,其耦合到选择器模块以处理与磁场传感器的所选子集相关联的信号,从而生成电导体中电流的连续度量。

10.根据权利要求9所述的孔中电流测量系统,其中所述预定干扰事件包括设置脉冲(1610)或重置脉冲(1615),以用于将坡莫合金薄膜的磁畴对准成平行于各向异性磁阻传感器的易轴。

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