[发明专利]局部轮胎表面异常的校正

权利要求书

1.一种用于改进轮胎的均匀性的方法，其包括：

识别具有用于均匀性校正的胎面的轮胎；

识别所述轮胎的所述胎面上可归因于胎面接头的至少一个局部轮胎表面异常，所述局部轮胎表面异常包括径向偏心的局部峰值，从针对所述轮胎获得的多个径向偏心测量中识别径向偏心的局部峰值；

通过一个或多个计算装置确定所述胎面接头的至少一个可识别特征，所述至少一个可识别特征包括所述胎面接头的大小和所述胎面接头的形状；

通过所述一个或多个计算装置确定材料清除图案以至少部分地基于所述胎面接头的所述至少一个可识别特征校正所述局部轮胎表面异常，所述材料清除图案指定用于在与所述局部轮胎表面异常相关联的一个或多个方位角位置处从所述轮胎的所述胎面清除材料的材料清除深度，至少部分地基于所述胎面接头的形状确定所述材料清除图案，至少部分地基于所述胎面接头的大小确定所述材料清除深度；以及

根据所述材料清除图案从所述轮胎的所述胎面清除轮胎材料。

2.根据权利要求1所述的方法，其中至少部分地基于围绕所述轮胎的所述胎面的多个径向偏心测量通过所述一个或多个计算装置确定所述胎面接头的所述至少一个可识别特征。

3.根据权利要求2所述的方法，其中针对围绕所述胎面的表面的中心迹线获得所述径向偏心测量。

4.根据权利要求2所述的方法，其中针对围绕所述胎面的表面的多条迹线获得所述径向偏心测量。

5.根据权利要求1所述的方法，其中至少部分地基于所述轮胎的所述胎面的踏面映射通过所述一个或多个计算装置确定胎面接头的所述至少一个可识别特征。

6.根据权利要求1所述的方法，其中至少部分地基于与所述轮胎相关联的制造数据通过所述一个或多个计算装置确定胎面接头的所述至少一个可识别特征。

7.根据权利要求1所述的方法，其中通过所述一个或多个计算装置确定所述胎面接头的至少一个可识别特征包括：

确定所述胎面接头在所述轮胎的所述胎面中的大致位置；以及

使用扫描探针在所述胎面接头的所述大致位置处扫描所述轮胎的所述胎面以识别所述胎面接头的所述至少一个可识别特征。

8.根据权利要求7所述的方法，其中至少部分地基于多个径向偏心测量、踏面映射或与所述轮胎相关联的制造数据中的一个或多个确定所述胎面接头在所述轮胎的所述胎面上的所述大致位置。

9.根据权利要求7所述的方法，其中所述扫描探针包括光探针、声波探针或相机探针。

10.根据权利要求7所述的方法，其中所述扫描探针包括激光探针。

11.根据权利要求1所述的方法，其中通过所述一个或多个计算装置确定材料清除图案以至少部分地基于所述胎面接头的所述至少一个可识别特征校正所述局部轮胎表面异常包括：

通过所述一个或多个计算装置确定所述轮胎的所述胎面中的一个或多个凹槽的位置；以及

至少部分地基于所述一个或多个凹槽的所述位置确定所述材料清除图案。

12.一种用于改进轮胎的均匀性的均匀性校正系统，所述均匀性校正系统包括：

轮胎夹具，其经配置以接纳轮胎以供选择性旋转；

均匀性测量装置，其经配置以在围绕所述轮胎的胎面的多个不同方位角位置处获得多个径向偏心测量；

切除装置，其经配置以从所述轮胎的所述胎面中清除轮胎材料；以及

控制系统，其耦合到所述切除装置和所述轮胎夹具，所述控制系统经配置以：

从多个径向偏心测量中识别可归因于胎面接头的径向偏心的局部峰值；

确定所述胎面接头的至少一个可识别特征，所述至少一个可识别特征包括所述胎面接头的大小和所述胎面接头的形状；以及

至少部分地基于所述至少一个可识别特征确定材料清除图案，所述材料清除图案指定从所述轮胎的所述胎面清除材料的材料清除深度以校正径向偏心的局部峰值，至少部分地基于所述胎面接头的形状确定所述材料清除图案，至少部分地基于所述胎面接头的大小确定所述材料清除深度；以及

控制所述轮胎夹具和所述切除装置根据所述材料清除图案从所述轮胎的所述胎面清除轮胎材料。