[实用新型]一种用于全极化雷达散射截面测量的低散射校准支架有效
| 申请号： | 201420827863.1 | 申请日： | 2014-12-23 |
| 公开（公告）号： | CN204269819U | 公开（公告）日： | 2015-04-15 |
| 发明（设计）人： | 李贵兰;马蔚宇;马永光;黄建领 | 申请（专利权）人： | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01S7/40 | 分类号： | G01S7/40 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 张文祎 |
| 地址： | 100854 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 极化 雷达 散射 截面 测量 校准 支架 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于全极化雷达散射截面测量系统校准用的低散射支架，其特征在于：包括支撑柱、安装平台和二面角支撑臂，所述安装平台水平地设置在所述支撑柱的顶端；所述安装平台上设有安装座，所述二面角支撑臂可转动地设置在安装座内，且二面角支撑臂与所述安装平台平行。
2.根据权利要求1所述的低散射支架，其特征在：所述支撑柱上设有用吸波材料制成的挡板，所述挡板设置在支撑柱的电磁波入射方向。
3.根据权利要求1所述的低散射支架，其特征在于：所述安装座设置在安装平台的一端，所述二面角支撑臂的一端通过轴承固设在安装座内，所述轴承上设有可测量所述二面角支撑臂旋转角度的刻度读数，所述安装平台的另一端设有支撑所述二面角支撑臂的支撑座，所述二面角支撑臂的另一端伸出所述安装平台用来连接二面角。
4.根据权利要求3所述的低散射支架，其特征在于：所述刻度读数的最小刻度为0.5度。
5.根据权利要求1所述的低散射支架，其特征在于：所述安装平台上还设置有水平仪。
6.根据权利要求1所述的低散射支架，其特征在于：所述安装平台在电磁波入射方向的棱线均采用切角结构。
7.根据权利要求1所述的低散射支架，其特征在于：所述支撑柱、安装平台和二面角支撑臂均为非金属材料。
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