[实用新型]一种芯片测试装置

权利要求书

1.一种芯片测试装置，其特征在于：包括第一探针引脚、第二探针引脚、列寻址模块、行寻址模块、开关模块和测试模块，第一探针引脚、列寻址模块和开关模块依次连接，第二探针引脚、行寻址模块和开关模块依次连接，开关模块与测试模块连接，所述的开关电路由单一的场效应管组成；所述的测试模块包括电阻测量模块和漏电测量模块，所述漏电测量模块包括第一比较器、第二比较器、第三比较器、光电耦合器和场效应管，第一比较器的负相输入端与测量负载连接，第一比较器的输出端与第二比较器的正相输入端连接，第二比较器的输出端与第三比较器的正相输入端连接，光电耦合器的正极端与示波器的输出端连接，光电耦合器的发射极端与场效应管的栅极连接，场效应管的漏极与第三比较器的正极端连接，第三比较器的输出端与示波器连接。

2.如权利要求1所述的芯片测试装置，其特征在于：还包括显示模块，测试模块与显示模块连接。

3.如权利要求2所述的芯片测试装置，其特征在于：所述测试模块包括设于设于各线路中电流互感器与电压互感器 。

4.如权利要求2或3所述的芯片测试装置，其特征在于：所述显示模块为LCD显示屏。