[实用新型]星用介质材料温度梯度下体电导率的测量装置

权利要求书

1.一种星用介质材料温度梯度下体电导率的测量装置，其特征在于包括热源（5）、温度采集装置、电压电流采集电路和采用多层电路板加工工艺沿厚度方向设置在被测的介质材料内的至少四层金属层；每层金属层上至少设有一片金属片（2），上下两层金属层间的金属片（2）结构相同且位置对应；每个金属片（2）边缘引出一根引线（7），所述引线（7）与电压电流采集电路连接，相邻的上下两个金属片（2）形成一对测试电极；所述热源（5）位于被测的介质材料（1）的上部，以一定角度照射被测的介质材料（1）上表面；所述温度采集装置包括温度传感器（8）、温度采集电路、温度显示电路，所述温度传感器（8）放置在相邻的上下两个金属片（2）所形成的测试电极的中间介质层中，所述温度传感器（8）与温度采集电路连接，所述温度采集电路与温度显示电路连接。

2.根据权利要求1所述的星用介质材料温度梯度下体电导率的测量装置，其特征在于被测的介质材料的四周还包覆有隔热层（3）。

3.根据权利要求1所述的星用介质材料温度梯度下体电导率的测量装置，其特征在于被测的介质材料底部还铺有低温层。

4.根据权利要求3所述的星用介质材料温度梯度下体电导率的测量装置，其特征在于所述低温层为干冰层（6）。

5.根据权利要求1所述的星用介质材料温度梯度下体电导率的测量装置，其特征在于所述金属片（2）为铜片。

6.根据权利要求1所述的星用介质材料温度梯度下体电导率的测量装置，其特征在于所述热源（5）为红外加热灯阵或太阳模拟器。

7.根据权利要求1所述的星用介质材料温度梯度下体电导率的测量装置，其特征在于所述被测的介质材料（1）为环氧树脂、聚酰亚胺或聚四氟乙烯中的一种或者其中一种的改性介质材料。