[实用新型]芯片测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种芯片测试装置。

背景技术

内存芯片通常焊接至一内存电路板后，再将该内存电路板插入一主机板的插槽内进行测试。测试结束后，需熔解焊锡才能将内存芯片从该内存电路板拆下，十分不方便。

实用新型内容

鉴于以上，有必要提供一种使用方便的芯片测试装置。

一种芯片测试装置，用于测试若干芯片，每一芯片底部设有若干引脚，该芯片测试装置包括一设有若干焊盘区的电路板、一底壳、一上壳、若干连接件及两定位件，每一焊盘区包括若干焊盘，该底壳的顶面设有一收容槽，该电路板卡置于该收容槽内且焊盘朝上，该上壳固定于该底壳上并将该电路板夹置于该上壳与该底壳之间，该上壳的顶部设有用于收容该两定位件的两定位槽，每一定位槽开设若干正对电路板的焊盘区的收容孔，每一定位件开设若干正对收容孔的用以收容芯片的定位口，每一连接件收容并固定于对应的收容孔内，每一连接件包括一由绝缘材料制成的安装块及设于该安装块的若干探针，这些探针的底部电性连接于对应焊盘区的焊盘，这些探针的顶部能电性连接于对应芯片的引脚。

优选地，该底壳于该收容槽的两端的中间处分别向收容槽内延伸一定位片，该电路板的两端分别设有一第一卡固口，该两定位片分别卡入该电路板的两第一卡固口内。

优选地，该电路板的一侧设有一能插接于一测试主板的一插槽内的插接部，插接部的两侧分别设有一排金手指，该电路板的两端于邻近该插接部处分别开设一第二卡固口，该两第二卡固口可卡合于该插槽两端的卡扣。

优选地，该上壳与该底壳分别设有使该电路板的两第二卡固口外露的上开口与下开口。

优选地，每一安装块的一端向外延伸一卡固部，每一卡固部开设一通孔，该上壳邻近每一收容孔设有一与该收容孔相连通的卡固槽，每一卡固槽内设有一固定孔，若干第一锁固件穿过这些通孔锁固于这些固定孔。

优选地，该上壳于定位槽的一侧设有若干通孔，该底壳于收容槽的一侧设有若干固定孔，若干第二锁固件穿过这些通孔锁固于对应的固定孔。

优选地，每一定位件设有两通孔，每一定位槽的底部设有两固定孔，若干第三锁固件穿过该两定位件的这些通孔锁固于该两定位槽对应的固定孔。

优选地，每一定位件内部设有若干磁铁块，该上壳由能够与磁铁块吸附的材料制成，该两定位件通过磁力吸附于该上壳。

优选地，每一定位件内部设有若干磁铁块，该芯片测试装置还包括两顶盖，每一顶盖包括由能够与磁铁块吸附的材料制成的通过磁力吸附于对应定位板的一盖板及设于盖板一侧的若干收容于对应的收容孔内且抵压对应的芯片的压块。

优选地，每一定位口的四角处分别形成一缺口。

相较现有技术，本实用新型芯片测试装置对芯片的安装测试方便，且结构简单，易于装配，针对不同尺寸、不同类型的芯片，可方便更换电路板、上壳、定位框及连接件，实现对多尺寸、多类型芯片的测试。

附图说明

图1是本实用新型芯片测试装置的立体分解图。

图2是图1的反方向视图。

图3是图2的连接件的部分放大图。

图4是图1的组装图。

图5是图4沿V-V线的剖视图。

图6是本实用新型芯片测试装置的使用状态图。

主要元件符号说明