[实用新型]电路板测试机构及测试系统

权利要求书

1.一种电路板测试机构，其特征在于，包括相对设置的第一信号层和第二信号层，所述第一信号层与所述第二信号层之间设有两个平行设置的信号过孔，且两个所述信号过孔之间和/或两侧设有与所述信号过孔平行的接地参考孔，所述信号过孔及所述接地参考孔均为连接所述第一信号层与所述第二信号层的通孔，所述第一信号层上设有与两个所述信号过孔分别连接的两个检测头，所述第二信号层上设有与两个所述信号过孔分别连接的两个接头。

2.如权利要求1所述的电路板测试机构，其特征在于，在所述第一信号层及所述第二信号层上，所述接地参考孔的两端分别设有参考孔焊盘，所述信号过孔的两端分别设有信号过孔焊盘，且所述检测头与所述第一信号层上的信号过孔焊盘电连接，所述接头与所述第二信号层上的信号过孔焊盘电连接。

3.如权利要求1所述的电路板测试机构，其特征在于，所述第一信号层与所述第二信号层之间还设有定位孔，所述定位孔为连接所述第一信号层与所述第二信号层的通孔，且平行于所述信号过孔。

4.如权利要求1所述的电路板测试机构，其特征在于，所述接地参考孔的数量为1个，且1个所述接地参考孔设在两个所述信号过孔的中间。

5.如权利要求1所述的电路板测试机构，其特征在于，所述接地参考孔的数量为两个，两个所述信号过孔均位于两个所述接地参考孔之间。

6.如权利要求1所述的电路板测试机构，其特征在于，所述接地参考孔的数量为3个，且3个所述接地参考孔与两个所述信号过孔间隔设置，且两侧为所述接地参考孔。

7.如权利要求1～6中任一项所述的电路板测试机构，其特征在于，所述信号过孔的多余短柱的长度为0～0.3mm，孔径为0.15～0.3mm，两个所述信号过孔的孔壁之间的最小距离为0.8～2.5mm。

8.一种电路板测试系统，其特征在于，包括权利要求1～7任一项所述的电路板测试机构以及参照机构；所述参考机构包括相对设置的第三信号层和第四信号层，所述第三信号层与所述第四信号层之间设有两个平行设置的参照信号过孔，且两个所述参照信号过孔之间和/或两侧设有与所述参照信号过孔平行的参照接地参考孔，所述参照信号过孔及所述参照接地参考孔均为连接所述第三信号层与所述第四信号层的通孔，所述第三信号层上设有与两个所述参照信号过孔分别连接的两个参照检测头，所述第四信号层上设有与两个所述参照信号过孔分别连接的两个参照接头；所述第三信号层与所述第四信号层之间的距离与相对应的所述第一信号层与所述第二信号层之间的距离一致，所述参照接地参考孔的数量及设置的位置与所述接地参考孔的数量级设置位置一致，且两个所述参照检测头之间短接。