[实用新型]用于轨道监测的双向棱镜装置有效

专利信息
申请号: 201420343085.9 申请日: 2014-06-26
公开(公告)号: CN203949638U 公开(公告)日: 2014-11-19
发明(设计)人: 刘宏 申请(专利权)人: 武汉中思威科技有限公司
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16
代理公司: 武汉河山金堂专利事务所 42212 代理人: 胡清堂
地址: 430000 湖北省武汉市洪*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 用于 轨道 监测 双向 棱镜 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种双向棱镜装置,具体涉及一种用于轨道监测的双向棱镜装置。

背景技术

在精密工程测量中,最具代表性的变形体有大坝、桥梁、高层建筑物、边坡、隧道和地铁等,对于这些复杂的工程结构,难以准确预测工程的实际情况,因此必须进行现场监测以了解工程的实际情况,变形监测是上述结构安全监测的首要内容。

变形监测是利用专用的仪器和方法对变形体的变形现象进行持续观测、对变形体变形性态进行分析和变形体变形的发展态势进行预测等的各项工作。其任务是确定在各种荷载和外力作用下,变形体的形状、大小、及位置变化的空间状态和时间特征。变形监测的测量点基本是采用固定的精密棱镜。

随着国内外基础建设的发展和经济的发展,变形监测用棱镜的需求也会急剧的扩大。根据现有常规沉降观测测量方法,反射棱镜为单一反射面,因往复测量的要求需要在测量线路上交替布置相反方向的棱镜。一般一条20公里长的地铁隧道需布置2400个观测点,也就是2400个反射棱镜,工作量与成本巨大。

发明内容

有鉴于此,有必要提供一种采用多工作面精密测量用棱镜以解决在需要单点往返测量时反射棱镜组需要移动的问题的用于轨道监测的双向棱镜装置。

一种用于轨道监测的双向棱镜装置,其特征在于,包括

一竖直设置的棱镜座;所述棱镜座的左、右端设有两个同轴反向设置的凹槽;

内嵌在所述棱镜座凹槽内的棱镜组件;所述棱镜组件包括第一棱镜和第二棱镜,所述第一棱镜和第二棱镜对称反向设置在所述棱镜座的两端,所述第一棱镜的光轴与第二棱镜的光轴重合;

与所述棱镜座螺纹配合连接的棱镜盖,用于将所述棱镜组件封装在所述棱镜座上。

优选的,所述棱镜盖的前端设有通光孔,所述棱镜组件的透光面抵接在所述通光孔上。

优选的,所述棱镜盖的通光孔内壁涂有硅橡胶,将棱镜组件固定设置在所述棱镜盖内。

优选的,所述棱镜盖的左、右端凹槽的底部设有垫片,所述第一棱镜和第二棱镜的底端分别抵接在垫片上。

优选的,所述垫片由软性耐磨材料制成。

优选的,所述第一棱镜和第二棱镜均为角锥棱镜。

优选的,所述双向棱镜装置还包括一直角支架,所述棱镜座通过螺钉固定在所述直角支架上,且所述螺钉的轴线垂直相交于所述第一棱镜和第二棱镜的底端连线的中点。

优选的,所述直角支架的底部横边上设有一通孔,所述通孔通过螺钉将所述双向棱镜装置固定在待测点。

本实用新型提供一种用于轨道监测的双向棱镜,该双向棱镜装置的棱镜座的左、右端对称反向设有第一棱镜和第二棱镜,通过对棱镜组件的改变,使轨道监测工作变得更加方便,相较现有技术中的单向棱镜组件的监测装置,该装置不需要180°调换棱镜方向,避免了在调换方向是带来了精度误差,保证了变形监测的精度,缩小了测量误差,测量数据更加准确,在使用过程中,同一个监测点不需移动棱镜观测,正向和反向数据通过一次即可方便地完成所需的测量工作,节约了变形监测的时间,同时,该装置结构简单,成本低廉,性能可靠,体积小巧,更加方便施工者携带、安装。

附图说明

图1为本实用新型提供的用于轨道监测的双向棱镜装置的剖视图;

图2为图1中的双向棱镜装置主视图。

具体实施方式

为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明,应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。

  如图1所示,本实用新型提供了一种用于轨道监测的双向棱镜装置,其包括一竖直设置的棱镜座1、一棱镜组件2、一棱镜盖3,其中,所述棱镜座1的左、右端对应设置有左端凹槽11、右端凹槽12,所述左端凹槽11、右端凹槽12同轴反向设置。

  所述棱镜组件2内嵌在所述棱镜座左端凹槽11、右端凹槽12内,用以接收测量仪器所发出的光信号、并将其反射回测量仪器。所述棱镜组件2包括第一棱镜21和第二棱镜22,所述第一棱镜21和第二棱镜22分别对称反向设置在所述棱镜座1的左端凹槽11、右端凹槽12内,所述第一棱镜21的光轴与第二棱镜22的光轴重合。具体的,所述第一棱镜21和第二棱镜22均为角锥棱镜。

本实用新型所述用于轨道监测的双向棱镜装置采用角锥棱镜作回射用元件,通过三个90°角回射入射光束,且其反射面的误差都控制在几秒精度以内,使测量的数据误差更小,测量精度更高。

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