[实用新型]测试线路、显示面板及显示装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及显示领域，尤其涉及一种测试线路、显示面板及显示装置。

背景技术

液晶显示器是当前主流的平板显示器，其由阵列基板、彩膜基板和两基板中间的液晶层构成。在阵列基板的制造工艺中，通常在对盒完成后要对一整张显示面板进行两次切割，为了对产品品质进行监控，对第一次切割后形成的中片(Q-panel)进行第一次测试，即对盒工艺检测(cell test，CT)，随即对第二次切割后形成的显示面板单元(single panel)进行第二次测试，即电学检测(Electrical test，ET)。

参见图1，图1为现有技术中的测试线路的示意图，其中，对盒工艺检测线路1’通过过孔6’与导电区域5’相连，电学测试区域(ET test Pad)2’位于导电区域5’中，且通过电学测试区域2’使得导电区域5’分别与第一扇形区域3’以及第二扇形区域4’相连接，从而使得使第一扇形区域3’中的信号能够传输至第二扇形区域4’中，进而能够使与第一扇形区域3’相连的集成电路芯片(Integrated Circuit，IC)发出的信号能够发送至与第二扇形区域4’相连的GOA(Gate Drive on Array，阵列基板行驱动)区域中，但由于导电区域5’裸露在空气中，在对第二次切割后形成的显示面板单元(single panel)进行第二次测试时，容易对电学测试区域2’造成损害，从而使得第一扇形区域3’中的信号不能传输到第二扇形区域4’中，导致后续模组检测时的检测信号不能从集成电路芯片到达GOA区域，产生面板(panel)不良。

实用新型内容

(一)要解决的技术问题

本实用新型要解决的技术问题是提供一种测试线路、显示面板及显示装置，以解决由于电学测试区域损伤而影响后续检测的问题。

(二)技术方案

为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案提供了一种测试线路，包括对盒工艺检测线路、第一扇区、第二扇区、用于将所述对盒工艺检测线路与所述第一扇区相连接的导电区域，以及位于所述导电区域中的电学检测区域，其中，所述第一扇区与所述第二扇区相连接，所述导电区域包括用于同所述第一扇区相连接的第一重叠区，所述电学检测区域位于所述导电区域中所述第一重叠区之外的区域。

进一步地，所述导电区域通过设置在所述第一重叠区上的过孔与所述第一扇区相连接。

进一步地，所述导电区域还包括用于同所述对盒工艺检测线路相连接的第二重叠区，所述电学检测区域还位于所述导电区域中所述第二重叠区之外的区域。

进一步地，所述导电区域通过设置在所述第二重叠区上的过孔与所述对盒工艺检测线路相连接。

进一步地，所述导电区域还设置有开关，所述开关用于控制所述导电区域的通断。

进一步地，所述开关设置在所述电学检测区与所述第一重叠区之间的区域。

进一步地，还包括用于控制所述开关的控制线路。

为解决上述技术问题，本实用新型还提供了一种显示面板，包括上述任意一种的测试线路。

为解决上述技术问题，本实用新型还提供了一种显示装置，包括上述的显示面板。

(三)有益效果

本实用新型实施方式提供的测试线路，通过将电学测试区域设置在第一扇区与第二扇区之外的区域，使得第一扇区中的信号不需通过电学测试区域就能够到达第二扇区，在对显示面板进行电学检测时，即使对电学测试区造成损伤，也不会影响集成电路芯片与GOA区域之间的信号传输，从而可以避免由于电学测试区域损伤而导致后续模组检测时的检测信号不能正常传输，降低面板不良发生率。

附图说明

图1为现有技术中的测试线路的示意图；

图2是本实用新型实施方式提供的一种测试线路的示意图；

图3是本实用新型实施方式提供的另一种测试线路的示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例，对本实用新型的具体实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本实用新型，但不用来限制本实用新型的范围。

图2是本实用新型实施方式提供的一种测试线路的示意图，包括对盒工艺检测线路1、第一扇区3、第二扇区4、用于将所述对盒工艺检测线路1与所述第一扇区3相连接的导电区域5，以及位于所述导电区域5中的电学检测区域2，其中，所述第一扇区3与所述第二扇区4相连接，所述导电区域5包括用于同所述第一扇区3相连接的第一重叠区51，所述电学检测区域2位于所述导电区域5中所述第一重叠区51之外的区域。