[实用新型]声表面波器件调试测试架有效

专利信息
申请号: 201420194008.1 申请日: 2014-04-21
公开(公告)号: CN203825116U 公开(公告)日: 2014-09-10
发明(设计)人: 胡经国;李宁;吴玉鸾;陈磊;赵成 申请(专利权)人: 扬州大学
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 扬州苏中专利事务所(普通合伙) 32222 代理人: 许必元
地址: 225009 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 表面波 器件 调试 测试
【权利要求书】:

1.一种声表面波器件调试测试架,其特征在于:包括调试电路板,金属底架和射频转换头,调试电路板固定在金属底架上,射频转换头安装在金属底架两端;所述调试电路板由高频双面敷铜基板制成,其正面中部区域为待测器件插座,两侧区域为调试电路,背面为与金属底架接触相连的大面积接地敷铜面。

2.根据权利要求1所述的声表面波器件调试测试架,其特征在于:还包括若干对串联元件焊盘和若干对并联元件焊盘以及用于它们之间电气相连的铜膜导线,串联元件焊盘对纵向放置,串接在信号线中,并联元件焊盘对横向放置,并接在信号线和地线之间,调试电路两端的信号电极和接地电极分别与待测器件插座和射频转换头的对应电极电气相连,且接地电极通过密布的金属过孔与调试电路板背面的大面积接地敷铜面电气相连。

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