[实用新型]一种光轴校准治具及系统

说明书

技术领域

 本实用新型属于光轴校准技术领域，具体地说，是涉及一种光轴校准治具及系统。

背景技术

在各种光学设备或治具的校准中,光轴的校准精度会直接影响到设备的精准度,是设备调试人员重要工作之一。

目前一般使用三点一线的方式校准直线,但是对于光轴的校准就比较困难了,必须一些高精度的仪器来检测,或者使用激光,自准直仪等。

如图1所示，为自准直仪的光轴校准原理,校准照相机2处发出一束光经过平板玻璃5，一部分光反射回校准照相机2，一部分光穿过平板玻璃5由后平面6反射回校准照相机2，通过调试使得两束反射光重合，并处在照相机2的中心位置上，即认为校准照相机2、平板玻璃5及承载台4，后平面6三者平行且同轴。这种办法成本较高，需要一块高精度的平板玻璃，和一个平行光发射器，且要把平行光信号发生器和照相机组合，组合精度会要求比较高。

现有光学测量设备校准多是以自准直仪原理进行的，这种光学测量设备固然精度很高，但是成本太高，对于一些预算较少的机器配备使用不合适，不利于降低产品成本。

发明内容

本实用新型为了解决现有光轴校准治具结构复杂、成本高的问题，提供了一种光轴校准治具及系统，结构简单，成本低。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用以下技术方案予以实现：

一种光轴校准治具，包括本体，所述的本体上开有圆形或者多边形的通孔，所述通孔为两端面相互平行的直孔，所述的通孔长度                                               ，其中，h为校准照相机的一个像素的长度，为治具最大的偏差角度值。

进一步的，所述通孔的各点处内径一致。

进一步的，所述的本体为长方体结构或者圆柱体结构。

基于上述的一种光轴校准治具，本实用新型同时提供了一种光轴校准系统，包括校准照相机、用于固定所述校准照相机的相机支架、光轴校准治具、以及承载台，所述的光轴校准治具固定在所述承载台上，所述的光轴校准治具包括本体，所述的本体上开有圆形或者多边形的通孔，所述通孔为两端面相互平行的直孔，所述的通孔长度，其中，h为校准照相机的一个像素的长度，为治具最大的偏差角度值，所述的承载台留有透光孔，所述透光孔与所述的通孔相连通，且所述透光孔的孔径大于通孔的孔径。

进一步的，所述的治具的一侧面贴合在所述的承载台上。

进一步的，所述通孔的各点处内径一致。

与现有技术相比，本实用新型的优点和积极效果是：本实用新型的光轴校准治具既能够将偏差限定在其被测产品要求的精度范围内，满足校准精度需求，而且可以使校准治具的校准精度不会过大，有利于减少校准时候的计算量，同时符合了对校准精度要求不是很高的设备的校准需求，利用光学成像原理设计校准治具，结构简单，颠覆了现有校准设备为了满足精度而导致结构复杂的常规设计，极大的降低了光轴校准设备的成本。

结合附图阅读本实用新型实施方式的详细描述后，本实用新型的其他特点和优点将变得更加清楚。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是现有技术中光轴校准系统结构示意图；

图2是本实用新型所提出的光轴校准治具的一种实施例结构示意图；

图3是本实用新型所提出的光轴校准治具的长度计算原理图；

图4是本实用新型所提出的光轴校准系统的一种实施例结构示意图；

图5是本发明所提出的光轴校准系统中像素长度计算原理图；

图6是本发明所提出的光轴校准系统中光轴不一致情况时所拍出的照片原理图；

图7是本发明所提出的光轴校准方法的一种原理图；

图8是本发明所提出的光轴校准方法的一种原理图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。