[实用新型]一种用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统。 

背景技术

随着物联网行业的发展以及ZigBee技术日益成熟，ZigBee产品生产量将逐渐加大。而由于ZigBee产品生产选择器件类型、温度变化、器件组装等因素的影响，即使是基于同样的平台同样的设计，也可能出现不同性能的产品。为了检查ZigBee产品的性能指标，必须通过测试仪进行测量。在ZigBee产品产量逐渐增大，通过手动操作仪表来测量其指标，效率低下，测试将会成为生产的瓶颈。 

发明内容

本实用新型要解决的技术问题是，针对现有ZigBee产品测试存在的上述不足，提供一种用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统，针对ZigBee射频的研发与生产，对其性能指标进行自动测量。 

本实用新型为解决上述技术问题所采用的技术方案是： 

一种用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统，包括待测ZigBee DUT、ZigBee测试仪、测试系统平台，所述待测ZigBee DUT与ZigBee测试仪通过射频线通信连接，ZigBee测试仪与测试系统平台通信连接，所述测试系统平台由电源、背板、控制器、存储单元、键盘、显示器及机箱结构组件构成，电源给背板供电，存储单元通过CF插槽插在控制器上，控制器通过PXI接口插在背板上，键盘通过USB接口连接在控制器上，显示器通过VGA接口连接在控制器上，测试系统平台的电源、背板、控制器、存储单元、键盘、显示器固定于机箱结构组件上。 

按上述方案，所述测试系统平台通过GPIB总线与ZigBee测试仪通信连接，或者通过网线与ZigBee测试仪通信连接，或者同时通过GPIB总线、网线与ZigBee测试仪通信连接。 

按上述方案，所述存储单元为市售的Flash存储器，所述控制器为市售的PXI控制器。 

本实用新型用于测量ZigBee射频性能的自动测试系统的测试方法，包括如下步骤： 

(1)加载存放于测试系统平台内存储单元中的项目配置文件，将待测ZigBee DUT的测量项目和测试环境配置参数导入测试系统平台中； 

(2)自动控制ZigBee测试仪与待测ZigBee DUT进行通信； 

(3)自动控制ZigBee测试仪进行指定测量项目的测量，读取测量结果，并且实时显示测试结果； 

(4)测量结束后，将测量结果保存。 

所述步骤(1)中测量项目按照IEE802.15.4协议要求包括：待测ZigBee DUT的发射状态到接收状态转换时间，接收状态到发射状态转换时间，矢量幅度误差，中心频率误差，发射功率，最大输入电平，接收灵敏度，链路品质信息。 

所述步骤(1)中测量项目根据不同测量需求在测试程序中选择修改、配置。 

所述步骤(2)中待测ZigBee DUT与ZigBee测试仪通过射频线通信连接。 

多次重复所述步骤(3)测量待测ZigBee DUT的某个测量项目或者全部测量项目，反映待测ZigBee DUT在一段时间内的稳定性和一致性。 

所述步骤(3)中ZigBee测试仪的测量结果通过测试系统平台的显示器读取，测试系统平台通过GPIB总线或网线获取测量结果。 

本实用新型的有益效果：利用GPIB总线和网络对ZigBee射频性能进行自动测试，使用方便，能提高ZigBee设备研发与生产的进度，系统形成后无需人为参于，可以节约更多的人力成本，为ZigBee设备性能指标的验证提供了很好的解决方案。 

附图说明

图1是本实用新型测试系统的总体结构框图； 

图2是本实用新型测试系统平台与ZigBee测试仪连接的结构示意图； 

图3是本实用新型测试系统的工作流程图。 

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型进行详细说明。