[实用新型]一种晶体电阻率测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及材料测试设备技术领域，特别是指一种晶体电阻率测试装置。

背景技术

现有针对晶体样品电阻和电阻率测试的系统，晶体样品放在两片电极中间夹紧，同时按照向垂直于晶体方向施加一个压力，使两片电极与被测晶体样品两个表面紧密接触，然后在两片电极之间加电压，测试两片电极之间的电压值和电流值，通过计算得到被测晶体样品的电阻值和电阻率值，而现有的系统都没有对施加在晶体样品上的压力大小进行测量和控制。由于压电效应的存在，所谓压电效应：某些电介质在沿一定方向上受到外力的作用而变形时，其内部会产生极化现象，同时在它的两个相对表面上出现正负相反的电荷，使得晶体样品在测试电阻和电阻率时，施加压力的不同，造成结果的不准确性，且不同的测试人员，多次测试的结果可以相差100倍以上，也导致了测试结果的重复性低。

实用新型内容

本实用新型提出一种晶体电阻率测试装置，解决了现有技术中由于施加压力不同，造成测试装置对晶体电阻率测试结果准确性差的问题。

本实用新型的技术方案是这样实现的：一种晶体电阻率测试装置，包括底板、竖直杆和两根横杆，所述竖直杆固定在所述底板上，所述竖直杆的顶端设有销轴；所述第一横杆的一端设有与所述销轴相配合的销孔，另一端固定连接有第一电极；所述竖直杆上固定连接有第二横杆，所述第二横杆连接有第二电极；所述第二电极与所述底板之间设有带有探头的压力测试装置。

作为优选的技术方案，所述压力测试装置的探头通过螺栓与所述第二电极固定连接。

本实用新型同背景技术相比所产生的有益效果：

在电极的底端设有压力测试装置，可以准确控制每次测试施加到晶体样品上的压力大小，使得每次测试压力相同，排除了不同测试人员，不同批次施加压力不同对测试造成的影响，提高了测试结果的准确性和重复性，可以使多次测试的结果差距较小甚至为零。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型测试晶体时的结构示意图。

图中：1-底板；2-竖直杆；3-压力测试装置；4-第二电极；5-晶体样品；6-第一电极。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

如图1所示，一种晶体电阻率测试装置，包括底板1、竖直杆2和两根横杆，竖直杆2固定在底板1上，竖直杆2的顶端设有销轴；第一横杆的一端设有与销轴相配合的销孔，另一端固定连接有第一电极6；竖直杆2上固定连接有第二横杆，第二横杆连接有第二电极4，第二电极4固定不可移动；第二电极4与底板1之间设有带有探头的压力测试装置3，压力测试装置3的探头通过螺栓与第二电极4固定连接，压力测试装置3一般为数显的压力测试仪，便于直接读数。测试时，将晶体样品5放在第二电极4上，然后再将第一电极6移动到晶体样品5的上表面，设定压力测试装置3的压力大小，最后向垂直于第一晶体6方向施加一个预定的压力。

以上所述仅为本实用新型的较佳实施例而已，并不用以限制本实用新型，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。