[实用新型]薄膜晶体管、阵列基板和显示装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及显示技术领域，尤其涉及一种薄膜晶体管、阵列基板和显示装置。

背景技术

液晶显示器制作完成后，需要对其进行检测，以确定其是否能正常显示。若液晶显示器不能正常显示，则需要对造成显示不良的原因进行分析。常见的原因为阵列基板上的数据线不良，例如数据线断线。

检测数据线不良的最直接有效的方法是：使用两个外部探针分别接触数据线上的两点，测试两点之间的电阻，从而判断两点之间是否存在不良。阵列基板上的数据线依次贯穿集成电路区域、第一复位电路区域、显示区域和第二复位电路区域，第一复位电路区域和第二复位电路区域只是位置不同，统称复位电路区域，其中，集成电路区域和复位电路区域之间的数据线通过布线区域的走线连接。目前，一条数据线上只有集成电路区域处的一个过孔使得数据线可以直接与外部探针接触，因而无法测试数据线的电阻。

因此，现有技术中，对于数据线不良的检测方法如下：首先，根据液晶显示器显示不良所在的位置，粗略判断发生不良的数据线范围，并进行标记；然后，使用显微镜仔细观察标记范围内的数据线，根据数据线的外观确定出现不良的位置。发明人发现，使用上述检测方法对数据线不良进行检测时，由于阵列基板的结构复杂，走线密集，使得检测过程困难。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种薄膜晶体管、阵列基板和显示装置，能够更简单地实现对数据线不良的检测。

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种薄膜晶体管，该薄膜晶体管采用如下技术方案：

一种薄膜晶体管，包括源极和位于所述源极上的钝化层，所述源极和数据线电连接，所述钝化层上设置有对应于所述源极的第一过孔，使所述源极暴露。

所述薄膜晶体管位于复位电路区域内。

所述薄膜晶体管还包括漏极，所述源极和所述漏极为一个整体结构。

本实用新型实施例提供了一种薄膜晶体管，所述薄膜晶体管包括源极和位于源极上的钝化层，源极和数据线电连接，钝化层上设置有对应于源极的过孔，使源极暴露，进而可以使外部探针通过暴露的源极连接至数据线，加之现有技术中，位于集成电路区域的数据线通过过孔暴露出来，使得数据线上有多个暴露区域可以连接外部探针。因此，在对数据线不良进行检测时，可以使用两个外部探针测试两个探针之间的数据线的电阻，从而可以准确判断数据线不良发生在哪条数据线以及数据线的哪个部分，最后通过显微镜观察等方法确定数据线不良的具体位置，从而可以更简单地对数据线不良进行检测。

为进一步解决上述技术问题，本实用新型实施例还提供了一种阵列基板，采用如下技术方案：

一种阵列基板，包括以上任一项所述的薄膜晶体管。

所述阵列基板还包括两个复位电路区域，所述薄膜晶体管位于所述复位电路区域内。

所述阵列基板还包括位于两个所述复位电路区域之间的显示区域，所述显示区域包括公共电极和像素电极，所述像素电极上设置有狭缝。

所述阵列基板还包括位于其中一个复位电路区域远离所述显示区域一侧的集成电路区域，所述集成电路区域包括多个集成电路单元，每个所述集成电路单元上设置有对应于数据线的第二过孔，使得所述数据线暴露。

所述阵列基板还包括位于所述复位电路区域和所述集成电路区域之间的布线区域，所述布线区域包括多条走线，每条所述走线的一端连接位于所述复位电路区域的数据线，另一端连接位于所述集成电路区域的数据线。

所述阵列基板还包括栅极驱动电路区域，所述栅极驱动电路区域包括位于显示区域两侧的显示栅极驱动电路区域和位于复位电路区域两侧的复位栅极驱动电路区域，显示栅极驱动电路区域包括显示栅极驱动电路单元，复位栅极驱动电路区域包括复位栅极驱动电路单元。

本实用新型实施例还提供了一种显示装置，所述显示装置包括如上所述的阵列基板。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型实施例中的第一种薄膜晶体管的示意图；

图2为本实用新型实施例中的第二种薄膜晶体管的示意图；

图3为本实用新型实施例中的阵列基板的示意图。

具体实施方式

本实用新型实施例提供了一种薄膜晶体管、阵列基板和显示装置，能够更简单地实现对数据线不良的检测。