[发明专利]一种液晶显示面板的品质的监控方法在审

专利信息
申请号: 201410854048.9 申请日: 2014-12-31
公开(公告)号: CN104570422A 公开(公告)日: 2015-04-29
发明(设计)人: 陈黎暄 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: G02F1/13 分类号: G02F1/13
代理公司: 广州三环专利代理有限公司 44202 代理人: 郝传鑫;熊永强
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 液晶显示 面板 品质 监控 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及显示领域,尤其涉及一种液晶显示面板的品质的监控方法。

背景技术

液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)是一种常用的电子设备,由于其具有功耗低、体积小、重量轻等特点,因此备受用户的青睐。在液晶显示面板的生产过程中,需要多道制程,比如阵列基板制程,彩色滤光基板制程等。各个制程中的品质参数对液晶显示面板的品质(比如Gamma值,对比度或者穿透率等)有着一定的影响。所有制程中的品质参数最终导致会对液晶显示面板的好坏。现有技术中,在液晶显示器的品质不能够很好地在液晶显示器的品质得到监控。

发明内容

本发明提供一种液晶显示器的品质的监控方法,所述液晶显示器的品质的监控方法包括:

选取表示液晶显示器的品质相关的多个品质参数,并得到所述品质关于多个所述品质参数的表达式;

获取每个品质参数的值,将每个品质参数的值带入所述品质关于多个所述品质参数的表达式中以得到第一数值;

判断所述第一数值是否落入一预设范围;

当所述第一数值落入所述预设范围时,则所述液晶显示器的品质被判断为正常。

其中,所述液晶显示器的品质的监控方法还包括:

当所述第一数值没有落入所述预设范围时,所述液晶显示器的品质被判断为不正常。

其中,所述液晶显示器的品质的监控方法还包括:

当所述液晶显示器的品质被判断为不正常时,调整至少一个品质参数对应的制程。

其中,所述液晶显示器的品质的监控方法还包括:

监测液晶显示器的每个制程中对应的品质参数;

若在某一制程中发现最终得到的所述第一数值没有落入所述预设范围,则调整所述制程之后的至少一个制程所对应的品质参数。

其中,所述液晶显示器的品质的监控方法还包括:

当调整所述制程之后的至少一个制程所对应的品质参数后得到的第一数值还不能落入所述预设范围,则调整所述制程之前的至少一个制程所对应的品质参数。

其中,在所述步骤“选取表示液晶显示器的品质相关的多个品质参数,并得到所述品质关于多个所述品质参数的表达式”中,通过最小二乘法得到所述品质关于多个所述品质参数的表达式。

其中,所述液晶显示器的品质包括液晶显示器的Gamma值或者对比度或者穿透率。

其中,所述液晶显示器的品质参数包括配向膜的厚度、配向膜的温度、像素电极之间的距离、像素电极的厚度、彩色滤光基板与薄膜晶体管阵列基板之间的间距、液晶面板加载的电压、液晶面板的亮度、液晶的质量的一个或者至少一个的组合。

与现有技术相较,本发明的液晶显示器的品质的监控方法,选取表征液晶显示器的品质相关的多个品质参数,并得到所述品质参数关于每个品质参数的表达式,获取每个品质参数的值,并将每个品质参数的值带入到关于多个所述品质参数的表达式中,得到了第一数值。当第一数值落到所述预设范围中时,所述液晶显示器的品质被判断为正常。因此,在本发明的液晶显示器的品质的监控方法中能够对液晶显示器的品质进行监控,在一定程度上避免了不良产品的出现。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明一较佳实施方式的液晶显示器的品质的监控方法的流程图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。

请参阅图1,图1为本发明一较佳实施方式的液晶显示器的品质的监控方法的流程图。所述液晶显示器的品质的监控方法用于对液晶显示器制备的各个制程中的参数进行监控,并判断最终得到的液晶显示器的品质是否正常。所述液晶显示器的品质的监控方法包括但不仅限于以下步骤。以下步骤的编号并非用于限制本发明的实际监测顺序。

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