[发明专利]一种SRAM型FPGA的可靠性优化方法

权利要求书

1.一种SRAM型FPGA的可靠性优化方法，所述SRAM型FPGA中的基本结构单元为查找表，其特征在于包括如下步骤：

(1)、对电路网表中各查找表进行可靠性评估，即采用立方分析法计算得到各查找表的电路软错误率，并进行累加得到电路网表的电路软错误率SER，具体计算公式如下：

SNR=Σm=1NnetsNERm*EPPm]]>

其中，N_nets为所述电路网表中连线的总数量；NER_m为第m条连线上发生故障的概率；EPP_m表示第m条连线上发生的故障会影响电路网表正常功能的概率；

(2)、遍历电路网表中所有查找表，查找各查找表中的空闲输入地址线，并对存在空闲输入地址线的查找表进行功能等价类建立，即以查找表为单位，建立功能等价类，选取已使用的输入地址线进行优化处理，具体实现方法如下：

(2a)、如果所述查找表中存在一根空闲的输入地址线，则建立功能等价类1.x对所述查找表中一根已使用的输入地址线上的SA0故障或SA1故障进行屏蔽，即将所述已使用的输入地址线作为优化对象，将所述空闲的输入地址线与被优化的输入地址线的起点连接在一起，对所述被优化的输入地址线上的SA0故障或SA1故障进行屏蔽；

(2b)、如果所述查找表中存在两条空闲的输入地址线，则建立功能等价类2对所述查找表中一根已使用的输入地址线上的SA0故障和SA1故障进行屏蔽，即将所述已使用的输入地址线作为优化对象，将所述两根空闲的输入地址线与作为优化对象的输入地址线起点连接在一起，对所述被优化的输入地址线上的故障进行屏蔽；

(2c)、如果所述查找表中存在N根空闲的输入地址线和M根已使用的输入地址线，其中N、M均为正整数且N>2，则建立由功能等价类1.x和功能等价类2组合得到的复合功能等价类，对已使用的输入地址线进行优化处理；

(3)、采用立方分析法对步骤(3)经过优化处理的电路网表进行可靠性评估，计算得到优化后的电路软错误率SER_better；

(4)、重复步骤(2)～(3)，遍历所有的优化处理过程，对各优化处理过程的电路软错误率进行比较，得到最优优化处理过程，即所述的最优优化处理过程对应的电路软错误率最小。

2.根据权利要求1所述的一种SRAM型FPGA的可靠性优化方法，其特征在于：在步骤(2a)中，所述功能等价类1.x包括功能等价类1.0和功能等价类1.1，所述功能等价类1.0用于屏蔽已使用的输入地址线上的SA0故障，所述功能等价类1.1用于屏蔽已使用的输入地址线上的SA1故障。

3.根据权利要求1所述的一种SRAM型FPGA的可靠性优化方法，其特征在于：在步骤(2c)中，建立由功能等价类1.x和功能等价类2组合得到的复合功能等价类的具体方法如下：

如果N为奇数即N＝2L+1，并且M≥L+1，其中L为整数，则在所述查找表的M根已使用输入地址线中选取L+1根作为优化对象，选取其中L根已使用的输入地址线建立功能等价类2进行故障屏蔽，并在剩余的M-L根已使用的输入地址线中选取1根建立功能等价类1.x进行故障屏蔽；

如果N为偶数即N＝2L，并且M>L，则在所述查找表的M根已使用输入地址线中选取L根作为优化对象，建立功能等价类2对所述L根已使用的输入地址线进行故障屏蔽；

如果N为奇数即N＝2L+1或N为偶数即N＝2L，并且M≤L，则在所述查找表的N根空闲输入地址线中选取2M根建立功能等价类2，对所述M根已使用的输入地址线进行故障屏蔽。