[发明专利]一种半导体激光器退化机制的检测方法在审
| 申请号： | 201410835806.2 | 申请日： | 2014-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN105807197A | 公开（公告）日： | 2016-07-27 |
| 发明（设计）人： | 温鹏雁;李德尧;张书明;刘建平;张立群;杨辉 | 申请（专利权）人： | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所;苏州纳睿光电有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 | 代理人： | 王锋 |
| 地址： | 215123 江苏省苏州市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 半导体激光器 退化 机制 检测 方法 | ||
【权利要求书】：
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所;苏州纳睿光电有限公司，未经中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所;苏州纳睿光电有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410835806.2/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种基于反向恢复时间筛选二极管的装置
- 下一篇：一种微波炉用容器
