[发明专利]空间效应试验板、试验系统以及测试器件空间效应的方法

权利要求书

1.一种空间效应试验板，能够与主控单元连接，其特征在于，包括：

处理器；

与所述处理器关联的控制模块；

与所述控制模块关联的检测模块；以及

与所述检测模块和所述控制模块关联的用于承载Flash型FPGA器件的适配器；

其中，所述处理器根据所述主控单元的指令向所述控制模块发出相应的测试信号，所述控制模块根据该测试信号激励所述适配器承载的Flash型FPGA器件，并控制所述检测模块获取所述适配器承载的Flash型FPGA器件的输出电流信息/逻辑编码，所述检测模块将获取到的电流信息/逻辑编码传输至所述处理器，并经所述处理器处理后反馈至所述主控单元。

2.根据权利要求1所述的空间效应试验板，其特征在于，包括：

设置于所述处理器和所述主控单元之间用于信号/数据传输的通信模块以及；

为各模块供电的电源模块。

3.根据权利要求1所述的空间效应试验板，其特征在于，所述适配器设置于所述试验板的上半部分的中间位置。

4.根据权利要求3所述的空间效应试验板，其特征在于，所述处理器设置于所述试验板的下半部分的中间位置。

5.根据权利要求1所述的空间效应试验板，其特征在于，所述处理器为ARM。

6.一种空间效应试验系统，包括

主控单元；

与所述主控单元关联的比较单元；和

两个如权利要求1-5中任一项所述的试验板，

其中，第一试验板位于辐照环境内，第二试验板位于辐照环境外，所述主控单元接收所述第一试验板的处理器反馈的第一输出电流信息/逻辑编码和所述第二试验板的处理器反馈的第二输出电流信息/逻辑编码，并将其发送给所述比较单元进行比较处理。

7.一种利用权利要求6中的空间效应试验系统测试Flash型FPGA器件空间效应的方法，包括：

a.将被测Flash型FPGA器件放置于第一试验板，将参照Flash型FPGA器件放置于第二试验板；

b.主控单元向第一试验板和第二试验板发送相同的指令，使所述第一试验板和所述第二试验板同时开始工作；

c.对所述第一试验板进行单粒子辐照，将被测Flash型FPGA器件的第一输出电流信息/逻辑编码(TC1/TD1)和参照Flash型FPGA器件的第二输出电流信息/逻辑编码(CC1/CD1)发送回所述主控单元，所述主控单元对所述第一输出电流信息/逻辑编码(TC1/TD1)和所述第二输出电流信息/逻辑编码(CC1/CD1)实时存储并发送给所述比较单元进行对比分析；

d.当所述第一输出电流信息(TC1)超过所述第二输出电流信息(CC1)出现跃变时，所述比较单元判定所述被测Flash型FPGA器件出现单粒子闩锁，当所述第一输出逻辑编码(TD1)与所述第二输出逻辑编码(CD1)不一致时，所述比较单元判定所述被测Flash型FPGA器件发生单粒子翻转。

8.根据权利要求7所述的测试Flash型FPGA器件空间效应的方法，其特征在于，

还包括所述步骤a和b之间的步骤a1：所述主控单元通过ARM处理器向第一试验板发送指令，记录被测Flash型FPGA器件的输出电流信息/逻辑编码为第一预存输出电流信息/逻辑编码(TC0/TD0)；并且

在所述步骤d中，利用所述比较单元将所述第一输出电流信息(TC1)分别和所述第二输出电流信息(CC1)、预存电流信息(TC0)对比，当所述第一输出电流信息(TC1)超出所述第二输出电流信息(CC1)和预存电流信息(TC0)出现跃变时，所述比较单元判定所述被测Flash型FPGA器件出现单粒子闩锁；

利用所述比较单元将所述第一输出逻辑编码(TD1)分别和所述第二输出逻辑编码(CD1)、预存逻辑编码(TD0)对比，当所述第一输出逻辑编码(TD1)与所述第二输出逻辑编码(CD1)和预存逻辑编码(TD0)均不一致时，所述比较单元判定所述被测Flash型FPGA器件发生单粒子翻转。