[发明专利]一种WiFi产品自动化射频测试方法在审

专利信息
申请号: 201410794778.4 申请日: 2014-12-19
公开(公告)号: CN104394544A 公开(公告)日: 2015-03-04
发明(设计)人: 江素华 申请(专利权)人: 上海斐讯数据通信技术有限公司
主分类号: H04W24/00 分类号: H04W24/00
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人: 张静洁;包姝晴
地址: 201620 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 wifi 产品 自动化 射频 测试 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及WiFi产品的射频测试领域,具体涉及一种WiFi产品自动化射频测试方法。 

背景技术

随着无线局域网的飞速发展,WiFi产品如无线路由器、无线网卡等在各个领域都得到了广泛的应用。WiFi产品作为一种无线通信类产品,必须要符合IEEE802.11定义的射频规范,在出厂前强制进行射频(Radio Frequency,简称RF)测试。

RF测试设备分两类,一类是传统的频谱分析仪(Spectrum Analyzer,简称SA)和功率计(Power Meter,简称PM),这类设备使用通用输入输出指令进行交互,编程简单但功能单一。另一类设备为综合测试仪,包括IQView、Agilent N4010,功能全面,能够提供C++实现的API作为编程接口,开发难度较传统设备大。

WiFi芯片厂商提供产品RF测试接口的方式主要为:一是提供由厂商自己开发的用于控制WiFi芯片的小程序,一些厂商同时还提供该小程序的源代码(如Atheros),但大多数不会提供(如Broadcom和Realtek);二是提供能够访问WiFi芯片的API或库文件(如Ralink)。自动化RF测试程序的开发方法根据上述两种方式的不同而不同。对于第一种方式,需要编写一个外挂程序,用于对小程序发送指令以完成测试动作;对于第二种方式,则直接用编程语言调用API或库文件控制WiFi芯片完成测试动作。

现有技术中,由于WiFi芯片的方案和RF测试设备的巨大差异,导致以往自动化RF测试程序都是针对不同WiFi芯片的方案、设备分别开发的;不但不同WiFi芯片的方案的程序不同,连同一个WiFi芯片的方案在不同测试设备上的程序也不同。因此需要开发、维护大量的测试程序,增加了开发、维护的难度和成本;当需要修改某个程序问题时,所有的测试程序都需要修改,从而不可避免的重复性动作是时间和人力的极大浪费。 

发明内容

本发明的目的在于提供一种WiFi产品自动化射频测试方法,通过处理模块创建测试分层结构,使得创建测试分层结构包括产品抽象层结构、设备抽象层结构,可以针对不同类型的WiFi产品、不同类型的射频测试设备选择合适射频测试方法对WiFi产品进行测试。本发明用户界面友好、功能强大、测试效率高、编程接口统一,极大地简化了射频测试程序的开发和维护,降低了测试成本,避免浪费时间和人力。

为了达到上述目的,本发明通过以下技术方案实现:

一种WiFi产品自动化射频测试系统,其特点是,该测试系统包含: 

处理模块;

至少一个WiFi设备,与所述处理模块连接;

至少一个射频测试设备,分别与所述处理模块、WiFi设备连接;

显示模块,与所述处理模块连接;

输入模块,与所述处理模块连接。

优选地,

所述处理模块用于获取至少一个所述WiFi设备信息、至少一个所述射频测试设备信息,创建测试分层结构,根据用户选择控制所述射频测试设备对所述WiFi设备进行射频测试;

所述射频测试设备用于根据所述处理模块的控制命令,对至少一个所述WiFi设备进行射频测试;

所述显示模块获取所述处理模块创建的测试分层结构,并将该测试分层结构按照测试选项分类形式进行显示;

根据所述显示模块的显示信息、实际被测的所述WiFi设备情况,用户将测试要求输入至所述输入模块,该输入模块控制所述处理模块根据选择的测试方案进行对被测的所述WiFi设备进行射频测试。

一种WiFi产品自动化射频测试方法,其特点是,该方法包含如下步骤:

S1,处理模块获取与其连接的至少一个WiFi设备、至少一个射频测试设备的信息;

S2,所述处理模块创建测试分层结构;

S3,显示模块获取所述处理模块创建的测试分层结构,并将该测试分层结构按照测试选项分类形式进行显示;

S4,用户根据所述显示模块显示的测试选项分类,将选择的测试方案发送至所述处理模块,该处理模块控制被选中的所述射频测试设备对被测的所述WiFi设备进行测试。

优选地,所述步骤S1包含: 

S1.1,所述处理模块获取与其连接的所述至少一个WiFi设备的WiFi芯片方案类型;

所述处理模块获取的至多四个WiFi芯片方案类型分别为Atheros类型、Ralink类型、 Broadcom类型及Realtek类型;

S1.2,所述处理模块获取与其连接的所述至少一个射频测试设备类型;

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