[发明专利]一种高精度检测仪无效
| 申请号: | 201410669841.1 | 申请日: | 2015-08-03 |
| 公开(公告)号: | CN104502115A | 公开(公告)日: | 2015-07-29 |
| 发明(设计)人: | 周鹏程;刘芳 | 申请(专利权)人: | 成都创图科技有限公司 |
| 主分类号: | G01M17/007 | 分类号: | G01M17/007 |
| 代理公司: | 深圳市合道英联专利事务所(普通合伙) 44309 | 代理人: | 廉红果;陆庆红 |
| 地址: | 610000 *** | 国省代码: | 四川;51 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 高精度 检测 | ||
1.一种高精度检测仪,主要由探头M1、探头M2,与探头M1和探头M2相连接的整流变压电路,与整流变压电路相连接的保护电路,以及与保护电路相连接的驱动电路组成,其特征在于:在驱动电路输出端还设置有两级低通滤波放大电路;所述两级低通滤波放大电路由放大器P1,放大器P2,三极管VT3,三极管VT4,正极与驱动电路相连接、负极接地的电容C7,一端与放大器P1的正相输入端相连接、另一端与驱动电路相连接的电阻R9,正极经电阻R10后与放大器P1反相输入端相连接、负极与电容C7的负极相连接的电容C8,串接在放大器P1的输出端与反相输入端之间的电容C9,负极与放大器P1的输出端相连接、正极与三极管VT3的基极相连接的电容C10,一端与三极管VT3的集电极相连接、另一端与三极管VT4的发射极相连接的电阻R11,正极经电阻R12后与三极管VT4的基极相连接、负极与电容C9的负极相连接的同时接地的电容C11,一端与电容C11的正极相连接、另一端与放大器P2的反相输入端相连接的电阻R13,与电阻R13相并联的电阻R14,串接在放大器P2的输出端和反相输入端之间的电容C12,以及串接在放大器P2的正相输入端和输出端之间的电阻R15组成;所述三极管VT3的发射极与电容C9负极相连接,三极管VT4的集电极与放大器P2的正相输入端相连接。
2.根据权利要求1所述的一种高精度检测仪,其特征在于:所述的整流变压电路主要由变压器T1,二极管桥式整流器K,设置在变压器T1原边的电感线圈L1,设置在变压器T1副边的电感线圈L2,正极与探头M1相连接、负极与探头M2相连接的电容C1,一端与电容C1的正极相连接、另一端顺次经电阻R2、电感线圈L1和电阻R1后与电容C1的负极相连接的熔断器FU,以及串接在电感线圈L2的非同名端与二极管桥式整流器K的一输入端之间的二极管D1组成;电感线圈L2的同名端与二极管桥式整流器K的另一输入端相连接;二极管桥式整流器K的两个输出端则分别与保护电路相连接。
3.根据权利要求2所述的一种高精度检测仪,其特征在于:所述的保护电路由串接在二极管桥式整流器K两个输出端之间的电容C2,N极经电阻R3后分别与电容C2的正极以及驱动电路相连接、P极则分别与电容C2的负极以及驱动电路相连接的晶闸管D2,以及正极经电阻R4后与分别驱动电路和晶闸管D2的N极相连接、负极与晶闸管D2的P极相连接的电容C3组成;所述电容C3的正极还与驱动电路相连接。
4.根据权利要求3所述的一种高精度检测仪,其特征在于:所述的驱动电路包括驱动芯片U,三极管VT1,三极管VT2,电感L3,电容C4,电容C5,电容C6,电阻R5,电阻R6,电阻R7,电阻R8,以及三极管D3;电感L3的一端与电阻R3相连接、另一端与三极管VT1的集电极相连接,电容C4的正极与驱动芯片U的T管脚相连接、负极与电容C3的负极相连接,电容C5的正极经电阻R5后与驱动芯片U的COMP管脚相连接、负极与电容C3的负极相连接,三极管VT1的基极与驱动芯片U的DRV管脚相连接、集电极与三极管VT2的集电极相连接、发射极经电阻R6后与电容C5的负极相连接,电容C6的正极与三极管VT1的集电极相连接、负极与驱动芯片U的FB管脚相连接,三极管VT2的集电极与电阻R9相连接、基极与电容C6的负极相连接、发射极经电阻R7后与电容C5的负极相连接,二极管D3的N极经电阻R8后与三极管VT2的集电极相连接、P极同时与电容C7的正极和电容C5的负极相连接;所述驱动芯片U的VDD管脚与晶闸管D2的N极相连接、EN管脚与电容C3的正极相连接,CS管脚与三极管VT1的发射极相连接。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都创图科技有限公司,未经成都创图科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410669841.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:组合式沉降柱及其用于沉降特性研究的方法
- 下一篇:灯头转动寿命测试装置





