[发明专利]一种多通道并行ADC系统的采样时间误差校正方法有效
申请号: | 201410654330.2 | 申请日: | 2014-11-17 |
公开(公告)号: | CN104393872B | 公开(公告)日: | 2018-01-16 |
发明(设计)人: | 齐佩佩;高洪福 | 申请(专利权)人: | 大唐微电子技术有限公司 |
主分类号: | H03M1/10 | 分类号: | H03M1/10 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司11262 | 代理人: | 李红爽,栗若木 |
地址: | 100094*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 通道 并行 adc 系统 采样 时间 误差 校正 方法 | ||
1.一种多通道并行模数转换器(ADC)系统的采样时间误差校正方法,其特征在于,包括以下步骤:
通过开关电路将模拟低通滤波器的输出端和多通道并行ADC系统的输入端相连,模拟输入信号x(t)进入所述模拟低通滤波器,滤波处理后得到窄带的模拟信号d(t),所述多通道并行ADC系统对所述模拟信号d(t)进行采样得到多通道采样输出信号yd(n),对所述多通道采样输出信号yd(n)进行LMS-频域自适应估计得到采样时间误差γ(n),其中,n表示采样点的个数;
通过开关电路将所述模拟输入信号x(t)直接送入所述多通道并行ADC系统,所述多通道并行ADC系统对所述模拟输入信号x(t)进行采样得到采样输出信号y(n),所述采样输出信号y(n)经过数字微分器处理后与所述采样时间误差γ(n)一起通过第一乘法器,得到系统误差信号c(n),所述采样输出信号y(n)和所述系统误差信号c(n)通过减法器,得到校正后的输出信号yc(n)。
2.如权利要求1所述的多通道并行ADC系统的采样时间误差校正方法,其特征在于:所述多通道采样输出信号yd(n)包括参考通道的采样输出信号y0(n)及待校正通道的采样输出信号ym(n),其中,m为不小于1且不大于M-1的整数,M代表总通道数。
3.如权利要求2所述的多通道并行ADC系统的采样时间误差校正方法,其特征在于,所述对多通道采样输出信号yd(n)进行LMS-频域自适应估计得到采样时间误差γ(n)的过程包括:待校正通道的采样输出信号ym(n)分别通过滤波补偿电路得到待校正通道的理想输出信号y0m(n),待校正通道的理想输出信号y0m(n)与参考通道的采样输出信号y0(n)通过减法器得到通道间的误差信号e0m(n),再根据LMS算法得到采样时间误差迭代公式,基于采样时间误差迭代公式得到采样时间误差γ(n)。
4.如权利要求3所述的多通道并行ADC系统的采样时间误差校正方法,其特征在于:所述滤波补偿电路包括Farrow结构分数延时滤波器、数字微分器、加法器以及第二乘法器。
5.如权利要求4所述的多通道并行ADC系统的采样时间误差校正方法,其特征在于,进行LMS-频域自适应估计得到所述采样时间误差包括:γm(n+1)=γm(n)μ·e0m(n)·T(n)
其中,μ为步长参数,设置范围为0.01—0.00001;e0m(n)为待校正通道的理想输出信号y0m(n)与参考通道的采样输出信号y0(n)之间的误差信号,T(n)表示自适应时间误差模块的输入部分,其表示为:
T(n)ym(n)f1(n)(-m/M)f3(n)
其中,由Farrow结构延时滤波器产生f1(n),用数字微分器来表示f3(n)。
6.如权利要求1所述的多通道并行ADC系统的采样时间误差校正方法,其特征在于:所述数字微分器为N阶数字微分器;所述多通道并行ADC系统的总通道数为M,用M个N/M阶的并行子微分器来等效所述的N阶数字微分器进行工作。
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