[发明专利]一种测量槽口内固定点到投影面距离的转接器及测量方法

说明书

本发明提供一种测量带角度定位器槽口内固定点到投影面距离的转接器以及测量方法，本发明克服了现有技术中的不能测量大角度，以及小槽口交点定位器的垂直尺寸，并为该类交点定位器的测量找到了可行的方法。克服了加工球形套，定位套，从孔量起接头很难加工德的问题。

技术领域

本发明属于工程尺寸测量领域，特别是涉及一种测量带角度定位器槽口内固定点到投影面距离的转接器以及测量方法。

背景技术

型架元件在安装时，它的测量定位基准是经过严格加工的孔或者面。但在很多情况下，测量工具或仪器不能对所有的型架元件的孔和面都直接进行测量，需要经过一定形式的转接。特别是在测量带角度的交点定位件时，就必须用特殊的转接件进行测量。

传统的测量方法是在测量倾斜交点垂直尺寸时如图1，可采用图2所示的球形套转接器来进行测量。它的全部结构是在斜交点定位器接头孔中插一个销棒4，在销棒上穿一个内径等于销棒直径的球形套2，再用两个定位套5把球形套定位在斜接头中间位置上。在球形套再套一个“从孔量起接头”6，在“从孔量起接头”上连接长杆千分尺，就可以对斜交点进行垂直测量了。

这种方法一般适合于倾斜角度不太大的定位器的测量，偏转太大会与定位器的槽面干涉，也不能用于小槽口的定位器，由于中间的球形套无法加工，而且所用的每个元件加工的难度都较大。

发明内容

本发明的目的是：解决大角度及小槽口定位器无法做垂直测量的问题。

为解决上述技术问题，本发明技术方案提供一种测量带角度定位器槽口内固定点到投影面距离的转接器，定位器1的槽口内开设有两个相对的工艺孔待测点位于所述工艺孔之间的轴向位置，转接器2厚度与定位器1的槽口一致，所述转接器与定位器接触的两个面上开有贯穿的连接孔201，所述连接孔201与所述定位器1的工艺孔的孔径一致，所述转接器2上还设有两个贯穿的测量孔一202和测量孔二203，所述测量孔一202、测量孔二203和连接孔201互相垂直且相交于待测点位置。

优选的，所述待测点位于所述定位器1的槽口内所述两个工艺孔之间的轴心线的中点位置，所述测量孔一202、测量孔二203和连接孔201互相垂直且相交于所述转接器2的几何体中心位置。

本发明技术方案还提供一种测量带角度定位器槽口内固定点到投影面距离的方法，包括以下步骤：

A，确定待测点位置；

B，根据待测点位置制作权利要求1所述的转接器2；

C，将所述转接器2插入所述定位器1的槽口中，用工艺销3穿过工艺孔和连接孔201，将所述转接器2固定在定位器1的槽口中；

D,将测量销4插入所述转接器2的测量孔一202或测量孔二203中，在所述测量销4上沿轴线分别取两点进行测量，当两次测量数值一样时，既该数值为待测点到投影面的垂直尺寸。

本发明克服了现有技术中的不能测量大角度，以及小槽口交点定位器的垂直尺寸，并为该类交点定位器的测量找到了可行的方法。克服了加工球形套，定位套，从孔量起接头很难加工德的问题。

附图说明

下面对本发明附图进行说明：

图1是被测尺寸示意图；

图2是采用球形转接器进行测量示意图；

图3是转接器示意图

图4是测量示意图

图5是测量中心点转接器

图6尺寸测量示意图

图7测量流程示意图

具体实施方式