[发明专利]IC卡高速扭曲测试装置和方法

说明书

技术领域

本发明涉及IC卡(IntegratedCircuitCard，集成电路卡)测试技术领 域，尤其涉及一种IC卡高速扭曲测试装置和方法。

背景技术

IC卡在我们的生活中使用越来越普遍，使用数量越来越大，但是在使用 过程中，经常出现IC卡使用一段时间后不能继续使用的现象。对损坏后返回 的IC卡进行分析，除去人为损坏的IC卡，大部分是芯片虚接、虚焊或线圈变 形造成线与线之间虚接，造成IC卡使用一段时间后出现不能继续使用的现 象。

目前，现有技术中的一种IC卡扭曲测试方法为：将IC卡放在两个卡槽 中，通过两个卡槽之间距离变化强迫IC卡弯曲变形，弯曲测试设备卡槽之间 距离变化的大小确定IC卡弯曲量的大小，卡弯曲量是两个固定不变的参数。

上述现有技术中的IC卡扭曲测试方法的缺点为：该测试方法测试数量 少，测试误差大，测试效率低，并且是破坏性测试，测试后就不能在成为产 品出厂。该方法对IC卡在生产过程中和出厂前进行抽样测试，能对批量生产 的IC卡进行在线批量测试。

发明内容

本发明的实施例提供了一种IC卡高速扭曲测试装置和方法，以实现对IC 卡进行有效的扭曲测试。

本发明提供了如下方案：

一种IC卡高速弯曲测试装置，包括：

四个从左到右排列的测试装置和一个使中间两个测试装置进行高度升降 的升降装置，所述测试装置包括两个转动装置和偏转电机，所述两个转动装 置分别为定轮装置和动轮装置，所述定轮装置由定轮圆轴和带动定轮圆轴转 动的电机组成，所述动轮装置由动轮圆轴和带动动轮圆轴转动的电机组成。

所述各个测试装置之间的距离间隔相同。

所述偏转电机与所述动轮装置同心，所述偏转电机通过连接装置和所述 动轮装置连接。

所述升降装置由升降电机或液压装置、升降杆和与中间两个测试装置的 连接梁组成。

当所述各个测试装置中的定轮圆轴和动轮圆轴在电机的带动下自身转动 时，所述定轮圆轴顺时针转动，所述动轮圆轴逆时针转动；或者，所述定轮 圆轴逆时针转动，所述动轮圆轴顺时针转动。

一种IC卡高速弯曲测试方法，包括：

将IC卡设置在最左边或者最右边的测试装置中的定轮圆轴和动轮圆轴之 间的间隔中，所述各个测试装置中的定轮圆轴和动轮圆轴在电机的带动下自 身转动，利用摩擦力将所述IC卡向前移动，使所述IC卡依次经过各个测试装 置；所述动轮装置还在所述偏转电机的带动下与定轮装置同心按圆周轨迹以 一定的角度做偏转运动，迫使IC卡按定轮圆轴的轮廓形状弯曲。

所述中间两个测试装置的升降高度H由相邻测试装置之间的距离L、定 轮圆轴的半径r和设定的动轮偏转角度θ确定，

H＝Ltanθ-2r[sinθcotan(90°-θ)+cosθ-1]。

所述IC卡弯曲量v由所述定轮圆轴的半径r和所述动轮偏转角度θ确定，

所述的方法还包括：

将从左到右的4个测试装置分别称为第一个测试装置、第二个测试装置、 第三个测试装置和第四个测试装置，当IC卡由左向右传输时，第一个测试装 置中的上部的转动装置为定轮装置，该定轮装置逆时针转动，下部的转动装 置为动轮装置，该动轮装置顺时针转动，向右偏转设定的动轮偏转角度θ；

第二个测试装置中的上部的转动装置为动轮装置，该动轮装置逆时针转 动，并且不发生偏转，下部的转动装置为定轮装置，该定轮装置顺时针转 动；

第三个测试装置中的上部的转动装置为动轮装置，该动轮装置逆时针转 动，向右偏转设定的动轮偏转角度θ，下部的转动装置为定轮装置，该定轮装 置顺时针转动；

第四个测试装置中的上部的转动装置为定轮装置，该定轮装置逆时针转 动，下部的转动装置为动轮装置，该动轮装置顺时针转动，不发生偏转。

当IC卡由右向左传输时，第四个测试装置中的上部的转动装置为定轮装 置，该定轮装置顺时针转动，下部的转动装置为动轮装置，该动轮装置逆时 针转动，向左偏转设定的动轮偏转角度θ；

第三个测试装置中的上部的转动装置为动轮装置，该动轮装置顺时针转 动，并且不发生偏转，下部的转动装置为定轮装置，该定轮装置逆时针转 动。