[发明专利]IC卡高速扭曲测试装置和方法在审
申请号: | 201410647559.3 | 申请日: | 2014-11-14 |
公开(公告)号: | CN105628525A | 公开(公告)日: | 2016-06-01 |
发明(设计)人: | 王顺仁;马振洲;陈召安;王璀;夏栩;刘鑫 | 申请(专利权)人: | 航天信息股份有限公司 |
主分类号: | G01N3/34 | 分类号: | G01N3/34 |
代理公司: | 北京工信联合知识产权代理事务所(普通合伙) 11266 | 代理人: | 黄晓军 |
地址: | 100195 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | ic 高速 扭曲 测试 装置 方法 | ||
1.一种IC卡高速弯曲测试装置,其特征在于,包括:
四个从左到右排列的测试装置和一个使中间两个测试装置进行高度升降 的升降装置,所述测试装置包括两个转动装置和偏转电机,所述两个转动装 置分别为定轮装置和动轮装置,所述定轮装置由定轮圆轴和带动定轮圆轴转 动的电机组成,所述动轮装置由动轮圆轴和带动动轮圆轴转动的电机组成。
2.根据权利要求1所述的IC卡高速弯曲测试装置,其特征在于,所述各 个测试装置之间的距离间隔相同。
3.根据权利要求1所述的IC卡高速弯曲测试装置,其特征在于,所述偏 转电机与所述动轮装置同心,所述偏转电机通过连接装置和所述动轮装置连 接。
4.根据权利要求1所述的IC卡高速弯曲测试装置,其特征在于,所述升 降装置由升降电机或液压装置、升降杆和与中间两个测试装置的连接梁组 成。
5.根据权利要求1所述的IC卡高速弯曲测试装置,其特征在于,当所述 各个测试装置中的定轮圆轴和动轮圆轴在电机的带动下自身转动时,所述定 轮圆轴顺时针转动,所述动轮圆轴逆时针转动;或者,所述定轮圆轴逆时针 转动,所述动轮圆轴顺时针转动。
6.一种基于权利要求1至5任一项所述的装置的IC卡高速弯曲测试方法, 其特征在于,包括:
将IC卡设置在最左边或者最右边的测试装置中的定轮圆轴和动轮圆轴之 间的间隔中,所述各个测试装置中的定轮圆轴和动轮圆轴在电机的带动下自 身转动,利用摩擦力将所述IC卡向前移动,使所述IC卡依次经过各个测试装 置;所述动轮装置还在所述偏转电机的带动下与定轮装置同心按圆周轨迹以 一定的角度做偏转运动,迫使IC卡按定轮圆轴的轮廓形状弯曲。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述中间两个测试装置的 升降高度H由相邻测试装置之间的距离L、定轮圆轴的半径r和设定的动轮偏 转角度θ确定,
H=Ltanθ-2r[sinθcotan(90°-θ)+cosθ-1]。
8.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述IC卡弯曲量v由所述定 轮圆轴的半径r和所述动轮偏转角度θ确定,
9.根据权利要求6或7或8所述的方法,其特征在于,所述的方法还包 括:
将从左到右的4个测试装置分别称为第一个测试装置、第二个测试装置、 第三个测试装置和第四个测试装置,当IC卡由左向右传输时,第一个测试装 置中的上部的转动装置为定轮装置,该定轮装置逆时针转动,下部的转动装 置为动轮装置,该动轮装置顺时针转动,向右偏转设定的动轮偏转角度θ;
第二个测试装置中的上部的转动装置为动轮装置,该动轮装置逆时针转 动,并且不发生偏转,下部的转动装置为定轮装置,该定轮装置顺时针转 动;
第三个测试装置中的上部的转动装置为动轮装置,该动轮装置逆时针转 动,向右偏转设定的动轮偏转角度θ,下部的转动装置为定轮装置,该定轮装 置顺时针转动;
第四个测试装置中的上部的转动装置为定轮装置,该定轮装置逆时针转 动,下部的转动装置为动轮装置,该动轮装置顺时针转动,不发生偏转。
10.根据权利要求6或7或8所述的方法,其特征在于,当IC卡由右向左传 输时,第四个测试装置中的上部的转动装置为定轮装置,该定轮装置顺时针 转动,下部的转动装置为动轮装置,该动轮装置逆时针转动,向左偏转设定 的动轮偏转角度θ;
第三个测试装置中的上部的转动装置为动轮装置,该动轮装置顺时针转 动,并且不发生偏转,下部的转动装置为定轮装置,该定轮装置逆时针转 动。
第二个测试装置中的上部的转动装置为动轮装置,该动轮装置顺时针转 动,向左偏转设定的动轮偏转角度θ,下部的转动装置为定轮装置,该定轮装 置逆时针转动。
第一个测试装置中的上部的转动装置为定轮装置,该定轮装置顺时针转 动,下部的转动装置为动轮装置,该动轮装置逆时针转动,不发生偏转。
11.根据权利要求6或7或8所述的方法,其特征在于,所述的方法还包 括:
将第一个IC卡高速弯曲测试装置正向安装,将第二个IC卡高速弯曲测试 装置倒立反方向安装,将IC卡从左向右或者从右向左同时经过所述第一个IC 卡高速弯曲测试装置和第二个IC卡高速弯曲测试装置,同时对所述IC卡进行 双面弯曲测试。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于航天信息股份有限公司,未经航天信息股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410647559.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:真空砖机上的双搅拌轴结构
- 下一篇:指接式细木工板