[发明专利]色度测试方法和色度测试设备有效
申请号: | 201410643707.4 | 申请日: | 2014-11-07 |
公开(公告)号: | CN104316191A | 公开(公告)日: | 2015-01-28 |
发明(设计)人: | 周丽佳 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司;成都京东方光电科技有限公司 |
主分类号: | G01J3/46 | 分类号: | G01J3/46;G01B11/00 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 | 代理人: | 彭瑞欣;陈源 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 色度 测试 方法 设备 | ||
1.一种利用色度测试设备进行色度测试的色度测试方法,所述色度测试设备包括色谱分析装置和测试头,所述测试头包括透光孔,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
S1、测量待测试产品的像素的尺寸;
S2、根据步骤S1中测量得到的像素的尺寸确定用于进行测试的透光孔的孔径;
S3、根据步骤S2中确定的孔径选择相应的透光孔对所述待测试产品进行色度测试。
2.根据权利要求1所述的色度测试方法,其特征在于,步骤S3包括:
S31、判断当前使用的透光孔的孔径是否满足测试要求;
S32、如果当前使用的透光孔的孔径满足测试要求,则对所述待测试产品进行测试;
S33、如果当前使用的透光孔的孔径不满足测试要求,则根据步骤S2中确定的孔径更换相应的透光孔进行测试;
其中,步骤S31包括:
判断当前使用的透光孔的孔径与步骤S2中确定的孔径是否一致。
3.根据权利要求1或2所述的色度测试方法,其特征在于,步骤S1包括:
S11、获取待测试产品的像素的图片;
S12、根据步骤S11中获取的像素的图片计算出该像素的灰度值;
S13、根据步骤S12中计算出的灰度值计算出该像素的尺寸。
4.根据权利要求3所述的色度测试方法,其特征在于,所述像素包括多个亚像素,所述尺寸包括所述像素的每个亚像素的宽度。
5.根据权利要求4所述的色度测试方法,其特征在于,步骤S2还包括:
S21a、将待测试产品的像素的尺寸与预存的样本像素的尺寸进行对比;
S22a、根据对比结果确定用于进行测试的透光孔的孔径。
6.根据权利要求5所述的色度测试方法,其特征在于,在步骤S22a中,当所述亚像素的宽度大于25μm时,选择孔径为20μm的透光孔;当所述亚像素的宽度小于25μm时,选择孔径为10μm的透光孔。
7.一种色度测试设备,包括色谱分析装置和测试头,其特征在于,所述色谱分析装置包括:
测量模块,用于测量待测试产品的像素的尺寸;
控制模块,与所述测量模块相连,用于根据测量得到的所述待测试产品的像素的尺寸确定用于进行测试的透光孔的孔径;
所述测试头包括:
透光孔切换器,所述透光孔切换器上设置有多个具有不同孔径的透光孔,所述透光孔切换器与所述控制模块相连,用于根据所述控制模块确定的孔径选取相应的透光孔进行测试。
8.根据权利要求7所述的色度测试设备,其特征在于,所述控制模块能够判断当前使用的透光孔的孔径是否满足测试要求,如果当前使用的透光孔的孔径不满足测试要求,所述控制模块控制所述透光孔切换器切换至相应的透光孔进行测试。
9.根据权利要求8所述的色度测试设备,其特征在于,所述测量模块包括图像采集子模块,用于获取待测试产品的像素的图片。
10.根据权利要求9所述的色度测试设备,其特征在于,所述图像采集子模块包括电荷耦合元件。
11.根据权利要求9所述的色度测试设备,其特征在于,所述测量模块还包括图像处理子模块,所述图像处理子模块能够根据所述待测试产品的像素的图片计算出该像素的灰度值,并根据该像素的灰度值计算出该像素的尺寸。
12.根据权利要求7至11中任意一项所述的色度测试设备,其特征在于,所述色谱分析装置还包括对比模块,所述对比模块内预存有样本像素的尺寸,所述对比模块与所述测量模块相连,用于将所述待测试产品的像素的尺寸与样本像素的尺寸进行对比,并将对比结果反馈给所述控制模块,所述控制模块根据对比结果来确定用于测试的透光孔的孔径。
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