[发明专利]光栅组微位移传感器及其测量位移的方法有效

专利信息
申请号: 201410637041.1 申请日: 2014-11-13
公开(公告)号: CN104406525B 公开(公告)日: 2017-02-15
发明(设计)人: 王晨;白剑;杨恺伦;汪凯巍 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司33200 代理人: 邱启旺
地址: 310058 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 光栅 位移 传感器 及其 测量 方法
【权利要求书】:

1.一种光栅组微位移传感器,其特征在于:包括光源(1)、分束器(16)、第一光栅层(2)、第二光栅层(3)、增反层(4)、第一红外光电探测器(5)、第一聚焦透镜组(6)、第二红外光电探测器(7)、第二聚焦透镜组(8)、第一固定底座(9)、第二固定底座(15)、回形悬臂梁(10)、上层电容平板(11)、下层电容平板(12)、信号处理模块(13)和电流驱动模块(14);所述上层电容平板(11)上刻蚀第一光栅层(2);上层电容平板(11)的一端通过两个回形悬臂梁(10)与第一固定底座(9)相连,另一端通过两个回形悬臂梁(10)与第二固定底座(15)相连;第一固定底座(9)和第二固定底座(15)均固定在增反层(4)上;上层电容平板(11)通过回形悬臂梁(10)、第一固定底座(9)和第二固定底座(15)与增反层(4)电连接;所述下层电容平板(12)上刻蚀第二光栅层(3),下层电容平板(12)固定在增反层(4)上;

所述光源(1)置于上层电容平板(11)的正上方,光源(1)的下方设有分束器(16),第一红外光电探测器(5)和第二红外光电探测器(7)对称置于光源(1)的两侧,第一聚焦透镜组(6)置于第一红外光电探测器(5)的正下方,第二聚焦透镜组(8)置于第二红外光电探测器(7)的正下方;第一红外光电探测器(5)和第二红外光电探测器(7)与信号处理模块(13)相连;下层电容平板(12)的两侧通过引线相连后接入电流驱动模块(14);增反层(4)的两侧通过引线相连后接入电流驱动模块(14);电流驱动模块(14)与信号处理模块(13)相连;

所述光源(1)为带有准直扩束的红外1530nm光源;所述增反层(4)由800nm的SiN3和600nm的SiO2以及Si基底从上至下依次排布组成;

所述第一光栅层(2)和第二光栅层(3)均有34组光栅,厚度均为950-965nm;每组光栅的光栅数为7个,周期T为1400-1500nm,占空比为0.45-0.5;第一光栅层(2)中每组光栅的横向间隔为1560nm;第二光栅层(3)中每组光栅的横向间隔为1575nm;第一光栅层(2)与第二光栅层(3)的空气间隙为300-400nm,横向初始位置在垂直于光栅方向上的间隔为10%T。

2.根据权利要求1所述一种光栅组微位移传感器,其特征在于:所述的光源(1)为垂直腔表面发射激光器。

3.根据权利要求1所述一种光栅组微位移传感器,其特征在于:所述每个光栅周期T为1441nm,占空比为0.47,第一光栅层(2)和第二光栅层(3)的厚度均为960nm。

4.一种利用权利要求1所述光栅组微位移传感器测量位移的方法,其特征在于,包括以下步骤:

从光源(1)发出的光通过分束器(16)产生两路激光,一路激光照射到上层电容平板(11)没有光栅的区域后反射,反射光束通过第一聚焦透镜组(6)照射到第一红外光电探测器(5)上;另一路激光依次通过上层电容平板(11)的第一光栅层(2)、下层电容平板(12)的第二光栅层(3)和增反层(4)后,经过增反层(4)反射的光束通过第二聚焦透镜组(8)照射到第二红外光电探测器(7)上;

第一红外光电探测器(5)和第二红外光电探测器(7)上接收到的光强信号传送到信号处理模块(13)进行对比分析,通过差分技术滤除噪声得到脉冲式光强信号;电流驱动模块(14)输出电流到上层电容平板(11)和下层电容平板(12),通过调整电流的大小来调整两层电容平板的纵向间隔,从而得到线宽不同的脉冲式光强信号,当得到的脉冲式光强信号的线宽最短时,锁定此时的电流,此时上层电容平板(11)和下层电容平板(12)发生横向位移产生一系列的脉冲式光强信号,计算此时脉冲式光强信号的脉冲个数,得到第一光栅层(2)相对于第二光栅层(3)的横向移动距离;若由于外界震动的原因造成上层电容平板(11)和下层电容平板(12)之间的间隔变化,使得脉冲信号消失,电流驱动模块(14)再次调整输出电流,直到重新出现脉冲式光强信号。

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