[发明专利]圆锥面上键槽测量量具

说明书

技术领域

本发明涉及机械测量技术领域，尤其涉及圆锥面上键槽测量量具。

背景技术

用与和带轮连接的传动轴，在其安装带轮的圆锥面上均会开设一键槽，对于该键槽深度尺寸的要求较高，但该键槽铣在传动轴的圆锥面上，采用深度千分尺测量较为困难；由于圆锥面上没有支撑点，深度千分尺测量后尺寸精度较低。

发明内容

本发明的目的是提供一种便于测量，并且测量精度较高的圆锥面上键槽测量量具。

本发明的技术方案如下：

圆锥面上键槽测量量具，包括基座，所述基座底面设有第一通槽，所述第一通槽上方的基座连接有测量组件；所述测量组件包括基座一端连接的支撑板；所述支撑板另一端连接第一千分表。

所述基座底面设置有第二通槽，所述第二通槽与第一通槽相互垂直，所述第二通槽上方的基座至少一端连接有第二支撑板，所述第二支撑板的另一端与第二千分表连接。通过在第二通槽上方的基座上设置第二支撑板，该第二支撑板可设置的较长，当需要测量键槽至轴面距离较长的被测工件时，只需将基座旋转90°后，即可测量。

所述第一通槽为弧形槽。弧形槽使基座与被测工件的传动轴贴合更紧密。

所述第一通槽为“V”形槽。“V”形槽使基座与被测工件的传动轴贴合更紧密。

所述第一通槽内连接有支撑座；所述第一通槽内顶面中央设有第一磁条；所述支撑座顶面设有与第一磁条磁性相反的第二磁条。通过设置支撑座，该支撑座与长方体接触面设有与长方体相适配的凹槽，并通过第二磁条连接在基座第一通槽内；通过支撑座底部的凹槽跨放在长方体上，使支撑座跨放牢固，不容易倾倒，导致测量误差。

本发明的有益效果是：本发明的测量量具设置了带第一通槽的基座，对设置在基座上的测量组件起到支撑作用；测量组件上的第一千分表对键槽进行深度测量；由于基座支撑第一千分表，简化测量过程，提高了测量精度。

附图说明

通过下面结合附图的详细描述，本发明前述的和其他的目的、特征和优点将变得显而易见。

其中：图1为本发明第一种实施方式结构示意图；

图2为本发明第二种实施方式结构示意图；

图3为本发明第三种实施方式结构示意图；

图4为本发明第四种实施方式结构示意图；

图5为本发明第五种实施方式结构示意图；

附图中，1为基座，2为第一通槽，3为支撑板，4为第一千分尺，5为第二通槽，6为第二支撑板，7为第二千分表，8为支撑座，9为第一磁条，10为第二磁条，11为弧形槽，12为“V”形槽，13为被测工件。

具体实施方式

实施例1

参见图1所示，圆锥面上键槽测量量具，包括基座1，所述基座底面设有第一通槽2，所述第一通槽2上方的基座连接有测量组件；所述测量组件包括基座一侧连接的支撑板3；所述支撑板另一端连接第一千分表4。

测量时，把基座跨放在校对件上，千分表的底部的测头测到校对件键槽的最深点，调零千分表，然后将基座通槽跨放在被测零件的轴面上，千分表底部的测头测到被测零件键槽的最深点。

实施例2

参见图2所示，由于键槽在被测零件上的位置尺寸会有不同，若当键槽至轴面的距离较长时，支撑板长度不足，导致无法测量，需要重新安装较长的支撑板，费时费力；针对上述问题，优选的，所述基座底面设置有第二通槽5，所述第二通槽5与第一通槽2相互垂直，所述第二通槽上方的基座至少一端连接有第二支撑板6，所述第二支撑板6的另一端与第二千分表7连接。通过在第二通槽上方的基座上设置第二支撑板，该第二支撑板可设置的较长，当需要测量键槽至轴面距离较长的被测工件时，只需将基座旋转90°后，即可测量。

实施例3

参见图3所示，优选的，所述第一通槽为弧形槽11。弧形槽使基座与被测工件的传动轴贴合更紧密。

实施例4

参见图4所示，优选的，所述第一通槽为“V”形槽12。“V”形槽使基座与被测工件的传动轴贴合更紧密。

实施例5

参见图5所示，由于当被测零件与锥面连接的是长方体，通槽难以跨放在长方体上；针对上述问题，优选的，所述第一通槽内连接有支撑座8；所述第一通槽内顶面中央设有第一磁条9；所述支撑座顶面设有与第一磁条磁性相反的第二磁条10。通过设置支撑座，该支撑座与长方体接触面设有与长方体相适配的凹槽，并通过第二磁条连接在基座第一通槽内；通过支撑座底部的凹槽跨放在长方体上，使支撑座跨放牢固，不容易倾倒，导致测量误差。

本发明并不局限于所述的实施例，本领域的技术人员在不脱离本发明的精神即公开范围内，仍可作一些修正或改变，故本发明的权利保护范围以权利要求书限定的范围为准。