[发明专利]形位公差综合测量装置

说明书

技术领域

    本发明涉及测量装置，具体涉及一种形位公差综合测量装置。

背景技术

对于机械零件的形位公差，目前应用较多的检测装备包括三坐标测量仪、圆度测量仪、平板和表架以及专用量具等。其中三坐标测量仪和圆度测量仪因为价格昂贵使用并不普及；平板及表架等通用工量具，虽然简单并且测量范围广，但是相对而言精度不高，同时对操作者技术水平要求较高，使用效率低下；专用量具由于仅适用于特定的公差特征项目或特定结构，不具备使用的普遍性，应用范围较窄。

发明内容

本发明的目的在于：提供一种形位公差综合测量装置，通过通用工量具的集成，以低成本和高效率实现大部分机械零件形位公差项目的测量，满足一般中小型机械零件形位误差的检测需求。

本发明的技术解决方案是：该形位公差综合测量装置包括第一层工作台、第二层工作台、第三层工作台、旋转工作台、立柱和带表盘的表架；第二层工作台的底部经槽安装在第一层工作台的顶部突起的直线导轨上，通过齿轮齿条机构驱动；第三层工作台的底部经槽安装在第二层工作台的顶部突起的直线导轨上，通过齿轮齿条机构驱动；第三层工作台的顶部安装旋转工作台，立柱通过螺纹与第一层工作台固联，立柱上安装带表盘的表架，整体构成形位公差综合测量装置。

为了表述方便，建立空间坐标系：立柱的轴线为Z轴；Z轴与第一层工作台底面的交点为坐标原点O；过原点O与第一层工作台顶部突起的直线导轨平行的直线为X轴；过原点O与第二层工作台顶部突起的直线导轨平行的直线为Y轴；第一层工作台是整个测量装置的底座，立柱通过螺纹与第一层工作台固联，表架底座套装在立柱上，旋转大螺母带动表架底座沿立柱轴线上下移动，表架底座绕立柱的轴线转动，既表架底座绕Z轴转动，表架底座通过表架底座锁紧螺钉锁紧固定；带表盘的表架与表架底座的伸出轴形成较小间隙的配合，带表盘的表架轴向由螺母固定，带表盘的表架绕其轴心线转动并由表架固定块卡住表架底座与带表盘的表架，旋转表架锁紧螺钉锁紧固定或松开带表盘的表架，指示表的轴套插在带表盘的表架的开口小孔中并通过指示表锁紧螺钉锁紧；第二层工作台的底部经槽沿第一层工作台的顶部突起的直线导轨移动，第二层工作台与第一层工作台通过齿轮齿条机构驱动，具体结构为：X轴移动调节旋钮通过螺纹与一号轴固联，一号轴通过过盈配合固联X轴移动齿轮，X轴移动齿轮与X轴移动齿条啮合，X轴移动齿条通过X轴移动齿条紧定螺钉固定在第二层工作台的底部，四个一号滚子内孔套在第二层工作台底部的伸出轴上形成较大间隙配合，一号螺母限制一号滚子沿其轴向脱落，四个一号滚子沿其轴线自如转动，当齿轮齿条正常啮合时，第二层工作台底部的四个一号滚子压在第一层工作台的上表面，旋转X轴移动调节旋钮，通过齿轮齿条机构驱动第二层工作台沿第一层工作台的直线导轨即X轴方向滚动，X轴移动锁紧螺钉与第一层工作台通过螺纹连接，锁紧块通过螺纹与X轴移动锁紧螺钉固联，反向旋转X轴移动锁紧螺钉，锁紧块顶住第二层工作台实现沿第一层工作台直线移动锁紧，正向旋转X轴移动锁紧螺钉解锁；第三层工作台底部经槽沿第二层工作台顶部突起的直线导轨移动，第三层工作台与第二层工作台也通过齿轮齿条机构驱动，具体结构为：Y轴移动调节旋钮通过螺纹与二号轴固联，二号轴通过过盈配合固联Y轴移动齿轮，Y轴移动齿轮与Y轴移动齿条啮合，Y轴移动齿条通过Y轴移动齿条紧定螺钉固定在第三层工作台的底部，四个二号滚子内孔套在第三层工作台底部的伸出轴上形成较大间隙配合，二号螺母限制二号滚子沿其轴向脱落，四个二号滚子沿其轴线自如转动，当齿轮齿条正常啮合时，第三层工作台底部的四个二号滚子压在第二层工作台的上表面，旋转Y轴移动调节旋钮，通过齿轮齿条机构驱动第三层工作台沿第二层工作台的直线导轨即Y轴方向滚动，Y轴移动锁紧螺钉与第二层工作台通过螺纹连接，反向旋转Y轴移动锁紧螺钉，第三层工作台与第二层工作台直线移动锁紧，正向旋转Y轴移动锁紧螺钉解锁；旋转工作台通过锁紧螺钉与第三层工作台联接，旋转工作台绕其轴线旋转。 

其中，在旋转工作台上安装三爪卡盘与顶尖装夹细长轴等回转体类机械零件。

本发明的优点是：该形位公差综合测量装置集成了平板、表架、导轨、旋转工作台等通用工量具，适用于大部分中小型机械零件形位公差的检测，调整方便，成本低廉，降低对操作者的技术要求。

附图说明

图1 为形位公差综合测量装置主视图。

图2 为图1的左视图。

图3 为图1的E-E视图。

图4 为图1的Ｄ-D视图。