[发明专利]一种远场电磁涡流测井仪及其定量解释的刻度方法有效

专利信息
申请号: 201410616762.4 申请日: 2014-11-04
公开(公告)号: CN104481501B 公开(公告)日: 2018-02-06
发明(设计)人: 罗卉;滑宝成;张国辉;詹保平 申请(专利权)人: 西安威盛电子科技股份有限公司
主分类号: E21B47/00 分类号: E21B47/00;E21B47/13
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司61200 代理人: 陆万寿
地址: 710065 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 电磁 涡流 测井 及其 定量 解释 刻度 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于井下套管井测井仪技术领域,特别是涉及一种远场电磁涡流测井仪及其定量解释的刻度方法。

背景技术

在石油开发领域中,当油田开发进入中晚期,井下套管受硫化氢、二氧化碳的腐蚀以及受地层应力、高温高压的作用,会出现不同程度的破损。按油田开发要求,套管在井下工作超过20年,就应该定期进行监测。当发现套管壁破损超过50%时,应及时进行修复。否则当套管壁破损出现断裂或穿孔时,不但很难修复,而且很可能会造成油井报废。因此,定量监测套管壁的破损和掌握其破损趋势非常重要。

目前,国内外应用远场电磁涡流测量套管壁厚的方法很多。这些仪器大多是通过应用电磁波在套管中传播时初相角的变化与传播距离之间的线性关系来计算套管厚度的。其中涉及的最主要的两个参数套管本身的电导率σ和磁导率μ受套管材料、批次、使用年数等因素影响很难确定其参数值。这些仪器均通过估算套管的电导率值和磁导率值来解释套管厚度的。因此,这些仪器均在定性或半定量解释水平上,均没有达到定量解释的要求。

发明内容

本发明的目的在于克服上述现有技术的不足,提供一种远场电磁涡流测井仪及其定量解释的刻度方法,该方法主要解决了仪器测量结果受套管本身的电导率σ和磁导率μ影响的问题,避免了套管因套管材料、批次、使用年数等因素对测量结果造成的误差。通过本发明方法还可以保证仪器在最佳频率下工作,使仪器测量灵敏度有较大提高,实现了远场电磁涡流测井仪的定量解释。

为了实现上述目的,本发明所采用的技术方案是:

一种远场电磁涡流测井仪,包括设置于套管内的发射线圈和接收线圈;发射线圈通低频交流电,接收线圈置于远离发射线圈2~3倍管内径处的远场区;发射线圈在套管周围产生电磁场,并在发射线圈和接收线圈之间形成磁路;发射线圈和接收线圈均与单片机控制器相连,单片机控制器上还连接有用于测量电磁波相角信息的自动跟踪系统,单片机控制器根据接收线圈接收的信号、输入的所测井套管壁厚度以及电磁波的相角信息,解释出套管的实际厚度。

本发明进一步的改进在于:

自动跟踪系统包括信号驱动模块以及放大电路;信号驱动模块与放大电路均与单片机控制器相连,单片机控制器通过信号驱动模块与发射线圈相连,接收线圈通过放大电路与单片机控制器相连。

一种远场电磁涡流测井仪的定量解释刻度方法,包括以下步骤:

1)将测井仪停留在套管壁完好井段;

2)测井仪上电工作后,以毫米为单位输入完好井段套管壁厚度D,存入仪器的存储器中;

3)根据完好井段套管壁厚度D和相位差φ的正比例关系求出比例系数K,其中,φ=K×D,φ=300°;φ为测量信号与发射信号的相位差;

4)将比例系数K存入远场电磁涡流测井仪器的存储器中;

5)确定最佳工作频率f0

6)测井时,用最佳工作频率f0作为仪器的发射频率,最后解释在最佳工作频率f0下的测井数据相位差φ,利用比例系数K,根据φ=K×d解释出实际套管厚度d。

所述的步骤3)中,比例系数K的计算方法具体为:

按照电磁波在介质中传播时的公式:

B为在介质中传播距离为d时的磁通密度;B0为在进入介质前的磁通密度;d为传播距离;f为频率;μ为磁导率;σ为电导率;t为时间;

得到电磁波的相位变化φ与传播距离d的关系公式:

当时,

φ=K×d(3)

根据仪器发射信号穿过套管金属时,发射信号相位变化φ与在套管内的传播距离d的线性关系φ=K×d,令在套管内的传播距离d为完好井段套管壁厚度D,令发射信号的相位变化φ为300°,计算出比例系数K。

所述的步骤5)中,确定最佳工作频率的具体方法是:

a)初始化测井仪的发射频率f=5Hz;

b)测井仪单片机控制器发射频率为f的方波信号;

c)单片机控制器检测接收经电路处理后的接收线圈接收的信号;

d)单片机控制器将接收信号与发射信号进行相位比较,并判断相位差φ是否为300°;

e)若φ为300°,则单片机控制器将此发射频率锁定,此频率即为该油井套管条件下,仪器的最佳工作频率f0

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安威盛电子科技股份有限公司,未经西安威盛电子科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410616762.4/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top