[发明专利]表面光散射测量装置

说明书

 

技术领域

本发明涉及一种表面测量装置，特别涉及一种表面光散射测量装置。

背景技术

物质中存在的不均匀团块使进入物质的光偏离入射方向而向四面八方散开，这种现象称为光的散射，向四面八方散开的光，就是散射光。与光的吸收一样，光的散射也会使通过物质的光的强度减弱。是由于介质中存在着其他物质的微粒，或者由于介质本身密度的不均匀性(即密度涨落)，光的散射现象在各个科学技术部门中有广泛应用。通过散射光的测量可以了解到散射粒子的浓度、大小、形状及取向等，在物理、化学、气象等许多方面的研究中得到应用。散射光谱又可用于确定物质分子与原子的特性。近年来利用强激光可获得受激光散射，更便于进行这种研究与应用。因此测量表面光散射成为待解决的问题。

 

发明内容

为了克服上述缺陷，本发明提供了一种能够快速测量表面光散射的表面光散射测量装置。

本发明为了解决其技术问题所采用的技术方案是：一种表面光散射测量装置，包括激光器、斩波器、衰减器、积分球、锁相放大器、接收器和数字电压表，所述激光器发射的光经过斩波器后，再经过衰减器进入积分球照射至样品表面，并经过样品反射后被接收器接收，所述积分球上设有一探测器和前置放大器，所述斩波器连接锁相放大器，所述锁相放大器连接探测器和前置放大器，所述锁相放大器还与数字电压表连接。

作为本发明的进一步改进，所述积分球位于探测器和前置放大器处还设有一闸门。

本发明的有益效果是：本发明的表面光散射测量装置利用激光光源可以尤其有效并以高的精确度来实施，激光光源尤其适于提供高质量的单色光源，能够快速有效地测量出表面光散射，本发明的装置结构简单，测量结果精确，操作简易，适用性光。

 

附图说明

图1为本发明结构示意图；

图中标示：1-激光器；2-斩波器；3-衰减器；4-积分球；5-锁相放大器；6-接收器；7-数字电压表；8-样品；9-探测器和前置放大器；10-闸门。

 

具体实施方式

为了加深对本发明的理解，下面将结合实施例和附图对本发明作进一步详述，该实施例仅用于解释本发明，并不构成对本发明保护范围的限定。

图1示出了本发明一种表面光散射测量装置的一种实施方式，包括激光器1、斩波器2、衰减器3、积分球4、锁相放大器5、接收器6和数字电压表7，所述激光器1发射的光经过斩波器2后，再经过衰减器3进入积分球4照射至样品8表面，并经过样品8反射后被接收器6接收，所述积分球4上设有一探测器和前置放大器9，所述斩波器2连接锁相放大器5，所述锁相放大器5连接探测器和前置放大器9，所述锁相放大器5还与数字电压表7连接。所述积分球4位于探测器和前置放大器9处还设有一闸门10。