[发明专利]分光装置以及磁测定装置在审

专利信息
申请号: 201410584811.0 申请日: 2014-10-27
公开(公告)号: CN104635293A 公开(公告)日: 2015-05-20
发明(设计)人: 长坂公夫 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: G02B6/00 分类号: G02B6/00;G01R33/032
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 刘建
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 分光 装置 以及 测定
【权利要求书】:

1.一种分光装置,其中,

该分光装置具有:

导光体,其具有对入射的光进行反射的第一面以及第二面,使所述光在所述第一面与第二面之间传播;

分光膜,其设于所述导光体的内部,具有使所述光反射的特性与使所述光透过的特性;以及

多个光取出部,其设于所述第一面,使在所述分光膜处透过的光射出。

2.根据权利要求1所述的分光装置,其特征在于,

所述导光体具有包含多层的层构造,

所述分光膜设置在所述多层中的相邻两层之间。

3.根据权利要求2所述的分光装置,其特征在于,

所述多层包含n层,

设置在所述n层中的第(i+1)层与第(i+2)层之间的分光膜的数量是设置在第i层与第(i+1)层之间的分光膜的数量的2倍。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的分光装置,其特征在于,

该分光装置具有光束移位器,其设于所述导光体的内部,并使所述光的光路平行移动。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的分光装置,其特征在于,

该分光装置具有:

构造体,其设于所述第一面的整面,将在所述导光体的内部传播的光束取出;以及

反射膜,其在所述第一面中设置于所述多个光取出部以外的部分的至少一部分。

6.根据权利要求1至4中任一项所述的分光装置,其特征在于,

所述多个光取出部分别由将在所述导光体的内部传播的光束取出的多个构造体形成,

所述多个构造体等间隔地配置。

7.一种磁测定装置,其中,

该磁测定装置具有:

导光体,其具有对入射的光进行反射的第一面以及第二面,使所述光在所述第一面与第二面之间传播;

分光膜,其设于所述导光体的内部,具有使所述光反射的特性与使所述光透过的特性;

多个光取出部,其设于所述第一面,使在所述分光膜处透过的光射出;以及

多个气室,其设于与所述多个光取出部对应的位置,各自封入有与磁场以及从所述光取出部取出的光束相互作用的气体。

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