[发明专利]一种提高叠前深度偏移成像精度的方法及装置在审
| 申请号: | 201410554812.0 | 申请日: | 2014-10-17 |
| 公开(公告)号: | CN105572735A | 公开(公告)日: | 2016-05-11 |
| 发明(设计)人: | 叶月明;郭庆新;庄锡进;杨存;金弟 | 申请(专利权)人: | 中国石油天然气股份有限公司 |
| 主分类号: | G01V1/30 | 分类号: | G01V1/30;G01V1/36;G06F19/00 |
| 代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 汤在彦 |
| 地址: | 100007 *** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 提高 深度 偏移 成像 精度 方法 装置 | ||
1.一种提高叠前深度偏移成像精度的方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
读取震源数据与叠前炮集数据,所述震源数据包括震源子波,所述叠前炮集数据包括一 次波与多次波;
对震源数据与叠前炮集数据进行叠前深度偏移处理,得到一次波与多次波联合叠前深度 偏移结果;
对叠前炮集数据中的多次波采用自由表面相关多次波预测方法,得到表面多次波的预测 数据;
对震源数据与表面多次波的预测数据进行叠前深度偏移处理,得到震源子波与预测的表 面多次波所产生的干涉噪音;
将所述得到的联合叠前深度偏移结果与所述得到的干涉噪音通过匹配、相减,得到衰减 干涉噪音后的一次波与多次波联合叠前深度偏移结果;
将衰减干涉噪音后的一次波与多次波联合叠前深度偏移结果显示为地震剖面图像。
2.如权利要求1所述的一种提高叠前深度偏移成像精度的方法,其特征在于,所述震 源子波、一次波与多次波分别用W(x,z,ω、P(x,z,ω)与M(x,z,ω)表示,其中多次波 M(x,z,ω)包含不同阶数的多次波,展开表示为:
M(x,z,ω)=M1(x,z,ω)+M2(x,z,ω)+…+MN(x,z,ω)
其中,x是空间直角坐标系中的水平方向坐标,z是深度方向坐标,ω是圆频率。
3.如权利要求1所述的一种提高叠前深度偏移成像精度的方法,其特征在于,所述对 震源数据与叠前炮集数据进行叠前深度偏移处理,得到一次波与多次波联合叠前深度偏移结 果具体包括以下处理步骤:
将震源子波与叠前炮集数据同时作为下行波场;
将叠前炮集数据作为上行波场;
基于波动方程的叠前深度偏移算子对下行波场与上行波场进行叠前深度偏移处理,得到 一次波与多次波联合叠前深度偏移结果。
4.如权利要求3所述的一种提高叠前深度偏移成像精度的方法,其特征在于,所述一 次波与多次波联合叠前深度偏移结果为:
其中,imgpm(x,z)是一次波与多次波联合叠前深度偏移结果,ωmin与ωmax分别是最小 与最大频率,下标F代表下行波场,下标B代表上行波场,I部分是一次波与不同阶多次波 对地下构造的真实成像,II部分是由于震源子波与多次波间相关成像产生的干涉噪音,III部 分是一次波、多次波间产生的相干噪音,IV部分是产生的背景噪音。
5.如权利要求1所述的一种提高叠前深度偏移成像精度的方法,其特征在于,所述自 由表面相关多次波预测数据用MP(x,z,ω)表示,MP(x,z,ω)包含不同阶数的自由表面相关多 次波,展开表示为:
MP(x,z,ω)=MP1(x,z,ω)+MP2(x,z,ω)+…+MPN(x,z,ω)。
6.如权利要求1所述的一种提高叠前深度偏移成像精度的方法,其特征在于,所述的 对震源数据与表面多次波的预测数据进行叠前深度偏移处理,得到震源子波与预测的表面多 次波所产生的干涉噪音包括以下步骤:
将震源子波作为下行波场;
将表面多次波的预测数据作为上行波场;
基于波动方程的叠前深度偏移算子对下行波场与上行波场进行叠前深度偏移处理,得到 震源子波与预测的表面多次波所产生的干涉噪音。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国石油天然气股份有限公司,未经中国石油天然气股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410554812.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





