[发明专利]用于测试存储器的方法及装置

说明书

本发明涉及用于测试存储器的方法及装置。在一种集成电路中，第一触发器扫描链被载入用于测试触发器的数据保持的数据，并且存储器被载入用于由存储器内建自测试(MBIST)包装器电路执行保持测试的数据。在数据被从存储器内读取之前，系统的一部分被置于低功率状态中达预定的时间段，并且处于低功率状态下的存储器的数据保持力被确定。

技术领域

本发明一般地涉及包含内部存储器的集成电路，并且更特别地，涉及用于在低功率的状态下测试存储器的方法和装置。

背景技术

为了测试存储器件(例如，SRAM)的操作，已知的是执行保持测试，在该保持测试中，数据被写入存储器件，并且在一段等待时间之后被从存储器中读回并被验证为与最初写入存储器件的数据是一致的。

集成电路可以按照低泄漏模式，例如，其中用于该电路的至少一部分的时钟被停止的低泄漏停止(LLS)模式来操作。对电路的一些部分的功率供应同样可以得以降低。

保持测试可以在停止模式的存储器件上执行。但是，这样的测试不会表示出在停止模式中的实际的操作条件，因为对存储器件的至少一些输入在不表现出实际停止模式期间的条件的测试期间仍然可以被供电。因此，有利的是能够在各种操作模式的实际条件下测试存储器的保持。

附图说明

本发明连同本发明的目的和优点一起可以连同附图一起参考下面关于优选实施例的描述而得以最佳理解，在附图中：

图1是根据本发明的一种实施例的系统的示意性框图；

图2是根据本发明的一种实施例的存储器内建自测试包装器(wrapper)；以及

图3是根据本发明的一种实施例的方法的流程图。

具体实施方式

以下结合附图所阐明的详细描述意指作为关于本发明的当前优选实施例的描述，并且并非意指表示可以用以实现本发明的唯一形式。应当理解，相同的或等效的功能可以通过意指包含于本发明的精神和范围之内的不同实施例来实现。在附图中，相同的附图标记用来在全篇中指示相同的元件。而且，，术语“包括”、“包含”或其任何其他变型均意指涵盖非排他性的包含，使得包含一系列元件或步骤的模块、电路、器件构件、结构及方法步骤不仅包含那些元件，而且可以包含没有明确列出的或此类模块、电路、器件构件或步骤所固有的其他元件或步骤。由“包含…”引入的元件或步骤在没有更多约束的情况下不排除包括该元件或步骤的附加的相同元件或步骤的存在。

在一种实施例中，本发明提供了用于在存储器处于低功率状态下测试集成电路的存储器的方法和装置。以此方式，存储器在更显示的操作条件下测试。而且，测试时间基本上不增加。

为了测试集成电路，例如，片上系统(SoC)，该电路包含至少一个扫描链。测试可以作为用于测试电路的逻辑单元以检测制造缺陷的制造测试来执行。扫描链是用来存储用于使电路中的至少一部分逻辑初始化至已知状态的数据的触发器链。当进入扫描测试模式时，指示已知状态的数据被输入或被载入扫描链内。在扫描链内的数据被用来对电路的逻辑施加刺激。在扫描测的捕获阶段期间，逻辑的状态由扫描链捕获。在读取或卸载阶段期间，捕获值被移位到扫描链之外，以便验证被测试的系统或其一部分。基于扫描链的输出，可以验证系统，例如，验证其为无制造缺陷的。以下，扫描测试称为正常的扫描模式。

在本发明的实施例中，集成电路在正常测试模式中是可操作的，例如，在系统正受到使用至少一个扫描链进行的制造测试时。使用扫描链的扫描测试在正常的操作条件下执行，其中该系统在基本上正常的操作电压下是可操作的。该系统还包括低功率测试模式，在该低功率测试模式中，形成在正常扫描模式中所使用的扫描链的一部分的某些保持元件(例如，触发器)形成了用于测试处于低功率模式中的系统的存储器的存储器测试电路的一部分。在低功率测试模式中使用的扫描链由在正常扫描模式中使用的一些保持元件形成。存储器在低功率模式中针对数据保持进行测试，同时剩余的保持元件在低功率模式中针对数据保持进行测试。