[发明专利]毫米波检查设备的辐射计温度校准装置及其校准方法

权利要求书

1.一种毫米波检查设备的辐射计温度校准装置，包括：

常温校准机构，所述常温校准机构的校准温度等于当前环境温度，用于校准辐射计的初值；和

高温校准机构，所述高温校准机构的校准温度高于当前环境温度，用于与常温校准机构一起校准辐射计的增益。

2.根据权利要求1所述的毫米波检查设备的辐射计温度校准装置，其中，所述常温校准机构包括：

可转动的常温校准镂空转筒组件(111)；和

第一驱动电机(118)，所述第一驱动电机(118)安装在支架(129)上，用于驱动常温校准镂空转筒组件(111)围绕所述辐射计连续转动。

3.根据权利要求2所述的毫米波检查设备的辐射计温度校准装置，其中，所述高温校准机构包括：

高温校准半圆板组件(130)；和

第二驱动电机(142)，所述第二驱动电机(142)安装在支架(129)上，用于驱动高温校准半圆板组件(130)围绕所述辐射计摆动。

4.根据权利要求2或3所述的毫米波检查设备的辐射计温度校准装置，其中，

所述常温校准镂空转筒组件(111)和所述高温校准半圆板组件(130)绕同一轴线运动。

5.根据权利要求4所述的毫米波检查设备的辐射计温度校准装置，其中，所述支架(129)为U形支架，其具有前壁(129a)和与前壁(129a)相对的后壁(129b)。

6.根据权利要求5所述的毫米波检查设备的辐射计温度校准装置，其中，

所述常温校准镂空转筒组件(111)的一端与转轴(116)连接，所述转轴(116)与所述第一驱动电机(118)的输出轴连接。

7.根据权利要求6所述的毫米波检查设备的辐射计温度校准装置，其中，

所述转轴(116)的轴端钻有带键的轴孔，所述第一驱动电机(118)的输出轴插入所述转轴(116)的轴孔中，从而实现两者之间的直接对接。

8.根据权利要求7所述的毫米波检查设备的辐射计温度校准装置，其中，

所述支架(129)的前壁(129a)上形成有轴承座(128)，所述转轴(116)通过轴承(117)转动地支撑在轴承座(128)的通孔(119)中。

9.根据权利要求8所述的毫米波检查设备的辐射计温度校准装置，其中，所述支架(129)的后壁(129b)上分别形成有：

用于安装第一驱动电机(118)的第一电机定位孔(127a)；和

用于安装第二驱动电机(142)的第二电机定位孔(127b)。

10.根据权利要求9所述的毫米波检查设备的辐射计温度校准装置，其中，

所述第一电机定位孔(127a)与所述轴承座(128)的通孔(119)同心。

11.根据权利要求10所述的毫米波检查设备的辐射计温度校准装置，其中，

所述常温校准机构还包括温度传感器(120)，用于检测所述常温校准镂空转筒组件(111)的温度。

12.根据权利要求10所述的毫米波检查设备的辐射计温度校准装置，其中，

所述常温校准机构还包括位置传感器(121)，用于检测所述常温校准镂空转筒组件(111)的初始位置。

13.根据权利要求12所述的毫米波检查设备的辐射计温度校准装置，其中，

所述位置传感器(121)为接近开关，并安装在支架(129)上；并且

在所述常温校准镂空转筒组件(111)上设置有与所述位置传感器(121)相对应的凸起(119)，

当所述常温校准镂空转筒组件(111)位于初始位置时，所述位置传感器(121)与所述凸起(119)直接相对。

14.根据权利要求10所述的毫米波检查设备的辐射计温度校准装置，其中，所述常温校准镂空转筒组件(111)包括：

镂空转筒(112)；和

设置在镂空转筒(112)内侧的吸波材料(113)。