[发明专利]阵列基板、显示装置及其检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种阵列基板、显示装置及其检测方法。

背景技术

目前，光电显示装置如液晶显示面板一般有阵列基板、对置基板以及位于阵列基板和对置基板之间的显示介质组成。其中，在阵列基板的显示区域内设置有信号线，例如数据信号线和栅极扫描信号线等，在阵列基板的非显示区域中设置有与信号线对应的接线端子，信号线通过周边走线与对应的接线端子连接。

图1为现有技术中显示装置平面示意图。其中，柔性电路板12通过异方导电膜，与阵列基板11侧的端子实现物理上的连接和电气上的导通。异方导电膜包括在薄膜状、高绝缘性的接着剂中，均一地散布导电粒子，加热加压后，柔性电路板12与阵列基板11之间的相对电极实现电气连接，而相邻的电极之间又具有绝缘性，同样地，柔性电路板12通过异方导电膜，与印刷电路板13侧的端子实现物理上的连接和电气上的导通。

现有技术中，端子压接后，一般通过Mark观察是否有偏移。或者将阵列基板端子区域，最外侧的Dummy端子(Dummy端子是空端子，在面板显示时无信号)仅保留ITO层，因为ITO是透明的，这样可以观察到导电粒子的分布情况，进一步检查压接结果。然而以上这些方法仅是表象，非具体数值，难以适用于制程管控及不良解析。

本发明提出一种简单易行的设计及操作手法，通过量测压接阻抗，来检测端子压接状况。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种阵列基板、显示装置及其检测方法，通过阵列基板侧特别的端子设计，使端子压接完后，可以直接量测压接阻抗，从而检查压接状况。

为达上述或其它目的，本发明一实施例提供了一种阵列基板，包括：一基板，包括一显示区域以及以非显示区域，在所述非显示区域形成多个端子区域，所述端子区域布置有多条信号端子和多条非信号端子，一所述非信号端子与一待检测信号端子相邻设置，所述待检测信号端子与相邻的所述非信号端子电连接。

进一步地，每个所述端子区域划分为第一子端子区域、第二子端子区域、第三子端子区域，且所述第一子端子区域、第三子端子区域分布在所述第二子端子区域两侧。

进一步地，所述第一子端子区域外侧、所述第一子端子区域与所述第二子端子区域、所述第二子端子区域与所述第三子端子区域、所述第三子端子区域外侧设置有非信号端子。

进一步地，在所述基板上形成第一金属层，所述第一金属层包括所述信号端子图案；在所述第一金属层上形成绝缘膜图案；再形成半导体导电图案，形成所述非信号端子以及覆盖所述信号端子。

进一步地，所述待检测信号端子与相邻的所述非信号端子通过半导体导电图案和/或金属图案电连接。

为达上述或其它目的，本发明另一实施例还提供了一种显示装置，包括：显示面板、柔性电路板以及印刷电路板；所述显示面板包括上述实施例中所述的阵列基板和与其相对设置的对置基板以及夹设与所述阵列基板与所述对置基板之间的显示介质；所述柔性电路板上一侧的电极与对应的所述阵列基板的所述端子区域的端子通过异方导电膜对应压接；所述柔性电路板上另一侧的电极与所述印刷电路板的端子通过异方导电膜对应压接。

进一步地，在所述待检测信号端子对应布置在所述柔性电路板的走线上设第一检测点，在与所述待检测信号端子相邻且电连接的非信号端子对应布置在所述柔性电路板的走线上设第二检测点。

进一步地，在所述待检测信号端子对应布置在所述所述印刷电路板上的走线上设第三检测点，在与所述待检测信号端子相邻且电连接的非信号端子对应布置在所述印刷电路板的走线上设第四检测点。

为达上述或其它目的，本发明又一实施例一种显示装置的测试方法，具有上述实施例所述的显示装置，包括：通过测试所述第一、二检测点或所述第三、第检测点的电压信号，得到所述待检测端子的压接阻抗。

为达上述或其它目的，本发明再一实施例一种显示装置的测试方法，具有上述实施例所述的显示装置，包括：通过一所述待检测信号端子与相邻的一所述非信号端子通过半导体导电图案电连接；通过另一所述待检测信号端子与相邻的另一所述非信号端子通过金属图案电连接；通过测试所述第一、二检测点或所述第三、第检测点的电压信号，得到所述待检测端子对应的所述柔性电路板上的电极、所述半导体导电图案、所述金属图案两两之间的导通阻抗。

本发明与现有技术相比具有以下优点：

本发明通过在显示装置的柔性电路板和/或印刷电路板上设置信号端子和非信号端子的对应检测点，可以得到所述待检测端子的压接阻抗，从而准确、迅速的判断端子压接不良。