[发明专利]液晶透镜优化方法及使用其的系统

权利要求书

1.液晶透镜优化方法，其特征在于，所述液晶透镜优化方法包括：

提供一平行光，使所述平行光依次经过起偏器、液晶透镜及检偏器，并获得所述平行光依次经过所述起偏器、所述液晶透镜及所述检偏器后产生的干涉光的干涉光强分布曲线；

对比所述干涉光强分布曲线与参考分布曲线；及

根据所述干涉光强分布曲线与所述参考分布曲线的误差调整液晶透镜对应位置的电极的电压，以调整所述液晶透镜的折射率分布。

2.如权利要求1所述的液晶透镜优化方法，其特征在于，所述平行光为单色光且分布均匀。

3.如权利要求2所述的液晶透镜优化方法，其特征在于，所述起偏器与所述检偏器的偏振轴平行或垂直。

4.如权利要求1所述的液晶透镜优化方法，其特征在于，对比所述干涉光强分布曲线与参考分布曲线的步骤包括：

根据不同位置液晶透镜的理想有效非寻常折射率获得所述参考分布曲线。

5.如权利要求4所述的液晶透镜优化方法，其特征在于，根据不同位置液晶透镜的理想有效非寻常折射率获得所述参考分布曲线的步骤包括：

获得液晶分子的理想有效非寻常折射率、寻常折射率、液晶透镜的盒间隙及所述平行光的波长；及

根据所述液晶分子的理想有效非寻常折射率、寻常折射率、所述液晶透镜的盒间隙及所述平行光的波长获得参考分布曲线。

6.一种液晶透镜优化系统，用于调整液晶透镜的折射率分布，所述液晶透镜包括电极，其特征在于，所述液晶透镜优化系统包括:

光发生器，用于产生平行光；

起偏器，接收所述光发生器产生的平行光，并根据所述平行光产生偏振光；

检偏器，与所述起偏器分别位于所述液晶透镜的两侧，用于检测经过所述检偏器的偏振光，以产生干涉光；及

处理器，用于根据所述干涉光获得干涉光强分布曲线，并根据所述干涉光强分布曲线与参考分布曲线的误差调整液晶透镜对应位置的电极的电压，从而调整所述液晶透镜的折射率分布。

7.如权利要求6所述的液晶透镜优化系统，其特征在于，所述起偏器与所述检偏器的偏振轴平行或垂直。

8.如权利要求6所述的液晶透镜优化系统，其特征在于，所述液晶透镜优化系统还包括:

存储单元，用于存储所述液晶透镜的盒间隙、所述平行光的波长、所述液晶分子的理想有效非寻常折射率、所述液晶分子的寻常折射率。

9.如权利要求6所述的液晶透镜优化系统，其特征在于，所述处理器包括：

半导体装置，用于接收所述干涉光，并将所述干涉光转换为干涉电信号；

计算单元，用于计算所述干涉光强分布曲线与参考分布曲线的误差；

控制单元，用于根据所述干涉光强分布曲线与参考分布曲线的误差调整液晶透镜对应位置的电极的电压，从而调整所述液晶透镜的折射率分布。

10.如权利要求6所述的液晶透镜优化系统，其特征在于，所述液晶透镜优化系统还包括:

显示装置，与所述处理器电连接，用于显示所述干涉条纹、所述干涉光强分布曲线及所述参考分布曲线。