[发明专利]一种光学系统综合性能测试仪有效
| 申请号： | 201410430593.5 | 申请日： | 2014-08-28 |
| 公开（公告）号： | CN105444993B | 公开（公告）日： | 2018-05-04 |
| 发明（设计）人： | 陈海清;邓严;廖兆曙;童伊琳 | 申请（专利权）人： | 汉口学院;陈海清;邓严 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙)42224 | 代理人： | 纪元 |
| 地址： | 430212 湖北*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 光学系统 综合 性能 测试仪 | ||
1.一种光学系统光斑/光焦综合性能测试仪，其特征在于，在水平的主光轴上依次设置有光源(1)、光斑/光焦切换装置(2)、平行光管(3)、被测光学系统座(4)和光电接收器(5)；
所述光源(1)、光斑/光焦切换装置(2)和平行光管(3)固定在圆转台(6)上，用于提供轴上光或轴外光；
所述光斑/光焦切换装置(2)，设置在平行光管(3)焦平面上，包括玻罗板(21)、星点板(22)及切换装置(23)，用于在玻罗板(21)和星点板(22)之间切换；
所述光电接收器(5)，为面阵光电耦合器，固定在平移台(7)上。
2.如权利要求1所述的光学系统光斑/光焦综合性能测试仪，其特征在于，所述光源(1)包括照明装置(11)、强度调节装置(12)和波长选择装置(13)；所述照明装置(11)用于产光，其光路上设置有强度调节装置(12)和波长选择装置(13)。
3.如权利要求2所述的光学系统光斑/光焦综合性能测试仪，其特征在于，所述强度调节装置(12)，包括一个或多个衰减片。
4.如权利要求2所述的光学系统光斑/光焦综合性能测试仪，其特征在于，所述波长选择装置(13)为滤光片。
5.如权利要求1所述的光学系统光斑/光焦综合性能测试仪，其特征在于，当所述光学系统综合性能测试仪处于焦距测量状态时，所述光源(1)、光斑/光焦切换装置(2)和平行光管(3)提供轴上光，光斑/光焦切换装置(2)切换为玻罗板(21)；当所述光学系统综合性能测试仪处于光斑分析状态时，所述光源(1)、光斑/光焦切换装置(2)、和平行光管(3)提供轴上光或轴外光，光斑/光焦切换装置(2)切换为星点板(22)。
6.如权利要求1所述的光学系统光斑/光焦综合性能测试仪，其特征在于，所述玻罗板(21)为狭缝玻罗板(21)，其上有成对的刻线，每对刻线间隔已知。
7.如权利要求1所述的光学系统光斑/光焦综合性能测试仪，其特征在于，所述星点板(22)为主光轴上有透光小孔的不透明光学器件，其小孔直径在0.1mm至0.5mm之间。
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