[发明专利]确定稀疏微波成像方位向采样序列的方法

权利要求书

1.一种确定稀疏微波成像方位向采样序列的方法，其特征在于，包括：

步骤A：由稀疏微波成像系统的指标要求确定其方位向采样率f_p；

步骤B：根据方位向采样率f_p确定稀疏微波成像方位向采样优化准则；以及

步骤C，根据稀疏微波成像方位向采样优化准则，基于模拟退火的采样序列优化算法确定方位向采样序列。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤A中，采用如下公式计算稀疏微波成像系统的方位向采样率f_p：

f_p＝α_cs·α·v/ρ_a

其中，降采样率α_cs、平台相对地面的速度v和方位向名义空间分辨率ρ_a为稀疏微波成像系统的指标，加权系数α＞1，根据系统指标需求由用户确定。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，对于单通道条带SAR，所述步骤B中稀疏微波成像方位向采样优化准则如下：

min{τm}Σl≠l′|Σmwa(τm-tl)·wa*(τm-tl′)·exp{j4πf0[r(τm-tl)-r(τm-tl′)]/c}|s.t.Σm|wa(τm-tl)|2=1,∀l=1,2,···,L|τm+1-τm|≥1fp,dp(Φ)/L<βp]]>

其中，τ_m为待设计的采样序列时刻，m＝1，2，…，M，M为总采样点数；t_l表示场景目标的波束中心时刻，l＝1，2，…，L，L表示场景中目标总数；w_a(·)是天线方向图；f₀表示雷达发射信号载频；r(τ_m-t_l)表示在采样时刻τ_m时雷达与波束中心时刻t_l目标的瞬时距离；d_p(Φ)表示给定参数p时，单通道条带SAR观测矩阵相关系数的支撑集半径，定义如下：

dp(Φ)=maxμll′∈Cp|l-l′|,]]>

其中，常数0＜p＜1；单通道条带SAR观测矩阵Φ中第m行、第l列上的元素定义为φ[m，l]＝w_a(τ_m-t_l)·exp{j4πf₀r(τ_m-t_l)/c}；μ_ll′(Φ)表示Φ的第l与l′列之间的相关系数向量u_l表示单位矩阵的第l列；C_p是观测矩阵相关系数集合{μ_ll′(Φ)|l＝1，2，…，L；l′＝1，2，…，L；l≠l′}子集，该集合里面的元素构成了观测矩阵相关系数中能量最大的(p·100)％的部分0＜β_p＜1是约束p相关系数的支撑半径的上界，参数p取(0，1)之间的数。