[发明专利]一种图像坏点的检测方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及图像处理领域，尤其涉及一种图像坏点的检测方法及装置。

背景技术

图像传感器包含一个彩色滤波阵列(color filter array)，即拜耳滤镜，使传感器上每一点采集的光线通过拜耳滤镜滤波后只能采集到一种波长的光，传感器上每一点采集的光线通过滤波处理后通过的对应颜色的光线为红色、蓝色或者绿色。图像传感器中的感光阵列将采集到的光信号转化为电信号；图像传感器再将电信号，转化为数字信号，转化的数字信号就是当前传感器上每一光线采集的点对应的像素值。图像传感器通过传感器上每一光线采集的点形成的阵列对应的像素组成一幅对应的原始图像。图像传感器获得的原始图像需要进行降低噪声与修正图像坏点等相关前置处理，以提高图像显示质量。由于在目前的传感器的制造工艺中，若图像传感器中的传感器上每一光线采集的点形成的阵列工艺存在缺陷，或光信号进行转化的过程中出现错误，会造成所撷取的图像上有些像素的信息有误，导致图像中的像素值不准确，这些有缺陷的像素即为图像坏点(Bad pixel)。

如附图1所示，为现有技术中进行图像坏点检测的示意图，其中虚线部分为检测窗口，检测窗口中阴影部分的像素为待检测像素，首先确定待检测像素的像素值，以及与待检测像素周围的同种颜色的同色像素的像素值；然后确定待检测像素的像素值与周围的同色像素的像素值之差是否在设定的像素值阈值范围内，若不在设定的阈值范围内，则确定该待检测像素为图像坏点；将与该图像坏点周围的同色像素的像素值求和取平均值作为该图像坏点校正后的像素值。

传统的图像坏点检测方法，适用于随机分布的散列图像坏点，即常规图像坏点，但无法检测出特殊类型的图像坏点，如行列坏点；行列坏点是指由于传感器工艺缺陷，导致采集得到的图像出现某一整行或整列都是图像坏点，这些图像坏点位置要么全亮，要么全暗，或者由于光信号转化的过程中，某一行或某一列的转化出现错误，导致一行或一列的像素都成为图像坏点；采用传统方法进行检测时，当出现行列坏点时，由于同一行或同一列的同种颜色的像素的像素值差异不大，无法判断出该待检测像素为图像坏点。

综上所述，当检测图像中出现行列坏点时，现有的图像坏点检测技术无法检测出行列坏点。

发明内容

本发明的目的是提供一种图像坏点的检测方法，以避免根据检测窗口中单一的阈值信息判断待检测像素是否为图像坏点，无法检测出行列坏点的问题，既实现了检测图像中是否存在行列坏点，又提高了检测图像坏点的准确性。

本发明实施例提供了一种图像坏点的检测方法，该方法包括：

针对检测图像，将待检测像素作为检测窗口的中心，获取检测窗口内所述待检测像素以及与所述待检测像素颜色相同的同色像素的像素值，并分别确定所述待检测像素与检测窗口内每一个同色像素的像素差值；统计所述像素差值大于第一像素差值阈值的同色像素的数量，作为第一数量值；

确定所述检测窗口内所述待检测像素以及与所述待检测像素在同一行、且位于所述待检测像素右侧的同色像素的像素值均不在设定的像素值阈值范围内，且所述确定的待检测像素与所述待检测像素右侧的同色像素的像素差值的绝对值均小于设定的绝对值阈值，则确定所述待检测像素为所述检测图像的疑似行坏点；

确定所述检测窗口内所述待检测像素以及与所述待检测像素在同一列、且位于所述待检测像素下方的同色像素的像素值均不在设定的像素值阈值范围内，且所述确定的待检测像素与所述待检测像素下方的同色像素的像素值的差值的绝对值小于设定的绝对值阈值，则确定所述待检测像素为所述检测图像的疑似列坏点；

确定所述第一数量值大于设定的第一数量阈值，且确定所述待检测像素为所述检测图像的疑似行坏点，则确定所述待检测像素为所述检测图像的行坏点；确定所述第一数量值大于设定的第一数量阈值，且确定所述待检测像素为所述检测图像的疑似列坏点，则确定所述待检测像素为所述检测图像的列坏点。

上述实施例中通过检测窗口中待检测像素以及待检测像素的同色像素的像素值，以及待检测像素与同色像素的像素差值确定检测窗口中是否存在疑似行列坏点；根据待检测像素与检测窗口内每一个同色像素的像素差值确定该待检测像素是否为行列坏点，避免了根据检测窗口中单一的阈值信息判断待检测像素是否为图像坏点，既实现了检测图像中是否存在行列坏点，又提高了检测图像坏点的准确性。

本发明实施例中该方法还包括：

确定所述第一数量值不大于设定的第一数量阈值；和/或，确定所述待检测像素不是疑似行坏点，也不是疑似列坏点；

触发对所述待检测像素进行常规坏点检测。