[发明专利]一种图像坏点的检测方法及装置有效

专利信息
申请号: 201410395833.2 申请日: 2014-08-12
公开(公告)号: CN105338342B 公开(公告)日: 2017-07-18
发明(设计)人: 谭世恒 申请(专利权)人: 炬芯(珠海)科技有限公司
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00;H04N5/367
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司11291 代理人: 黄志华
地址: 519085 广东省珠海市唐*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 图像 检测 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种图像坏点的检测方法,其特征在于,该方法包括:

针对检测图像,将待检测像素作为检测窗口的中心,获取检测窗口内所述待检测像素以及与所述待检测像素颜色相同的同色像素的像素值,并分别确定所述待检测像素与检测窗口内每一个同色像素的像素差值;统计所述像素差值大于第一像素差值阈值的同色像素的数量,作为第一数量值;

确定所述检测窗口内所述待检测像素以及与所述待检测像素在同一行、且位于所述待检测像素右侧的同色像素的像素值均不在设定的像素值阈值范围内,且所述确定的待检测像素与所述待检测像素右侧的同色像素的像素差值的绝对值均小于设定的绝对值阈值,则确定所述待检测像素为所述检测图像的疑似行坏点;

确定所述检测窗口内所述待检测像素以及与所述待检测像素在同一列、且位于所述待检测像素下方的同色像素的像素值均不在设定的像素值阈值范围内,且所述确定的待检测像素与所述待检测像素下方的同色像素的像素值的差值的绝对值小于设定的绝对值阈值,则确定所述待检测像素为所述检测图像的疑似列坏点;

确定所述第一数量值大于设定的第一数量阈值,且确定所述待检测像素为所述检测图像的疑似行坏点,则确定所述待检测像素为所述检测图像的行坏点;确定所述第一数量值大于设定的第一数量阈值,且确定所述待检测像素为所述检测图像的疑似列坏点,则确定所述待检测像素为所述检测图像的列坏点。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,该方法还包括:

确定所述第一数量值不大于设定的第一数量阈值;和/或,确定所述待检测像素不是疑似行坏点,也不是疑似列坏点;

触发对所述待检测像素进行常规坏点检测。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对待检测像素进行常规坏点检测,具体包括:

统计所述待检测像素与检测窗口内每一个同色像素的像素差值大于第二像素差值阈值的同色像素的数量,作为第二数量值,若所述第二数量值大于设定的第二数量阈值,则确定所述待检测像素为常规坏点,否则确定所述待检测像素为正常像素,触发检测窗口移动。

4.如权利要求1~3任一所述的方法,其特征在于,确定所述待检测像素为行坏点之后,将所述检测窗口内所述待检测像素的纵向方向梯度值、左对角线方向梯度值、右对角线方向梯度值进行比较,确定梯度值最小的方向为参考方向;将确定的参考方向上与所述待检测像素相距2p个像素单位的一对同色像素的像素值取平均值,将确定的平均值作为待检测像素校正后的像素值,其中p为正整数;

或,确定所述待检测像素为列坏点之后,则将所述检测窗口内所述待检测像素的横向方向梯度值、左对角线方向梯度值、右对角线方向梯度值进行比较,确定梯度值最小的方向为参考方向;将确定的参考方向上与所述待检测像素相距2p个像素单位的一对同色像素的像素值取平均值,将确定的平均值作为待检测像素校正后的像素值,其中p为正整数;

或,确定所述待检测像素是行坏点,也是列坏点之后,则将所述检测窗口内所述待检测像素的左对角线方向梯度值、右对角线方向梯度值进行比较,确定梯度值最小的方向为参考方向;将确定的参考方向上与所述待检测像素相距2p个像素单位的一对同色像素的像素值取平均值,将确定的平均值作为待检测像素校正后的像素值,其中p为正整数;

或,确定所述待检测像素不是行坏点,也不是列坏点之后,则将所述检测窗口内所述待检测像素的横向方向梯度值、纵向方向梯度值、左对角线方向梯度值、右对角线方向梯度值进行比较,确定梯度值最小的方向为参考方向;将确定的参考方向上与所述待检测像素相距2p个像素单位的一对同色像素的像素值取平均值,将确定的平均值作为待检测像素校正后的像素值,其中p为正整数。

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