[发明专利]图像传感器及其去除太阳黑斑方法和去除太阳黑斑装置有效
申请号: | 201410394941.8 | 申请日: | 2014-08-12 |
公开(公告)号: | CN105338268B | 公开(公告)日: | 2018-09-11 |
发明(设计)人: | 刘坤;郭先清;傅璟军 | 申请(专利权)人: | 比亚迪股份有限公司 |
主分类号: | H04N5/374 | 分类号: | H04N5/374;H04N5/359 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张大威 |
地址: | 518118 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 图像传感器 及其 去除 太阳 黑斑 方法 装置 | ||
本发明公开了一种图像传感器的去除太阳黑斑方法,包括:获取图像传感器像素阵列中像素单元的复位采样信号值;根据预设采样信号阈值对复位采样信号值进行比较,并当复位采样信号值小于预设采样信号阈值时生成比较信号;根据比较信号生成复位采样信号值对应像素单元的位置信息;以图像最亮值替换位置信息对应的复位采样信号值,以去除位置信息对应像素单元的太阳黑斑。本发明的图像传感器的去除太阳黑斑方法可以准确的去除所有太阳黑斑而无需采用固定电平值充当复位采样信号值,有效减小了信号链的噪声。本发明还公开了一种图像传感器的去除太阳黑斑装置和一种包括该图像传感器的去除太阳黑斑装置的图像传感器。
技术领域
本发明涉及图像处理技术领域,特别涉及一种图像传感器的去除太阳黑斑方法、一种图像传感器的去除太阳黑斑装置和一种包括该图像传感器的去除太阳黑斑装置的图像传感器。
背景技术
互补型金属氧化物半导体场效应图像传感器简称CMOS(Complementary MetalOxide Semiconductor,互补型金属氧化物半导体)图像传感器,CMOS图像传感器的主要构成为模拟信号处理部分和数字图像信号处理部分。具体地,CMOS图像传感器主要包括PixelArray(像素单元)、控制电路、模拟前端处理电路、A/D转换器、图像信号处理电路和相关存储单元等。随着CMOS图像传感器的发展,人们对CMOS图像传感器的研究也越来越深入,其性能也得到显著的提升。但是,由于CMOS图像传感器工艺结构及本身的原因,当光线过强时,图像传感器的复位采样信号的电压会下降,并且在光强超过一定限度后,复位采样信号下降速率随着光强的增大而增加。这种现象就会导致图像传感器在光强较强的情况下出现太阳黑斑现象,例如对着太阳拍照时,相片中太阳的中心区域出现一定范围的黑斑。
相关技术为了避免出现这种太阳黑斑现象,通过以下两种方式来去除太阳黑斑。1,通过数字的方式:首先对是否出现太阳黑斑现象进行判断,当认为出现太阳黑斑现象时,对黑斑区域进行补偿,即调整黑斑区域以使黑斑区域和黑斑周围区域的亮度值达到一致。2,通过模拟的方式:首先对是否出现太阳黑斑现象进行判断,即判断复位采样电平和基准电平之间的差异,当差异超过一定值则判断出现太阳黑斑现象,进而采用固定电平产生电路产生的固定电平充当复位采样电平来矫正因复位采样电平下降而造成的太阳黑斑现象。
相关技术中通过数字的方式和模拟的方式进行太阳黑斑去除,存在以下缺点:1,数字的方式很容易出现误判,即对是否出现太阳黑斑现象判断不准确。例如可能对黑色物体进行误判,因为黑色物体的表现形式类似于太阳黑斑,或不能对太阳黑斑进行正确判断,例如认为太阳黑斑是黑色物体等。2,模拟的方式采用固定电平产生电路产生的固定电平充当复位采样电平来进行太阳黑斑矫正,虽然不至于出现误判现象,但是,这样会给采样电路带来过多的噪声。因此,需要对相关技术进行改进。
发明内容
本发明的目的旨在至少从一定程度上解决上述的技术问题之一。
为此,本发明的一个目的在于提出一种图像传感器的去除太阳黑斑方法,该图像传感器的去除太阳黑斑方法可以准确的去除太阳黑斑而无需采用固定电平充当复位采样电平,大大减小了信号链的噪声。
本发明的另一个目的在于提出一种图像传感器的去除太阳黑斑装置。
本发明的再一个目的在于提出一种图像传感器。
为达到上述目的,本发明一方面实施例提出了一种图像传感器的去除太阳黑斑方法,该图像传感器的去除太阳黑斑方法包括以下步骤:获取图像传感器像素阵列中像素单元的复位采样信号值;根据预设采样信号阈值对所述复位采样信号值进行比较,并当所述复位采样信号值小于所述预设采样信号阈值时生成比较信号;根据所述比较信号生成所述复位采样信号值对应像素单元的位置信息;以及以图像最亮值替换所述位置信息对应的所述复位采样信号值,以去除所述位置信息对应像素单元的太阳黑斑。
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