[发明专利]工件校验装置、工件校验方法及工件加工方法

权利要求书

1.一种工件校验装置，其特征在于，包括一基准球和一支撑座，所述基准球固定于所述支撑座顶部。

2.根据权利要求1所述的工件校验装置，其特征在于，所述支撑座顶面中部向外延伸形成一柱体，所述基准球固定于所述柱体的顶端。

3.根据权利要求2所述的工件校验装置，其特征在于,所述支撑座包括一连接件和一底座，所述连接件形成所述柱体，所述基准球可拆卸地固定于所述柱体的顶端，所述连接件可拆卸地固定于所述底座上。

4.根据权利要求3所述的工件校验装置，其特征在于，所述连接件沿所述柱体的轴向形成一贯通的第一螺孔，所述基准球一端形成与所述第一螺孔配合的一第二螺孔，所述基准球通过穿设于所述第一螺孔和所述第二螺孔内的一第一螺钉可拆卸地固定于所述柱体顶端。

5.根据权利要求3或4所述的工件校验装置，其特征在于，所述连接件与所述底座配合形成第三螺孔，所述连接件通过穿设于所述第三螺孔内的第二螺钉固定于所述底座。

6.根据权利要求1所述的工件校验装置，其特征在于，所述支撑座底部形成底脚。

7.根据权利要求1所述的工件校验装置，其特征在于，所述支撑座上表面呈正方形。

8.一种基于权利要求1～7任一项所述的工件校验装置的工件校验方法，包括步骤：

S1：将所述工件校验装置固定于一固定面；

S2：测量所述基准球相对于一基准底面的一最高点高度；

S3：将所述待校验工件固定于所述固定面且所述待校验工件底面的中心位置与所述工件校验装置底面的中心位置对应；

S4：测量预设的所述待校验工件的一测量面相对于所述基准底面的测量面高度；

S5：计算所述最高点高度和所述测量面高度的差值，获得一实际差值；

S6：判断所述实际差值和一理论差值的差值是否在一预设误差范围内；在预设误差范围内所述测量面加工合格。

9.根据权利要求8所述的工件校验方法，其特征在于，所述固定面为一正旋磁台的台面；所述步骤S1前还包括步骤：

S0：将所述正旋磁台的台面调节至一固定角度，其中，所述固定角度的数值为所述测量面与水平面平行时所述待校验工件底面与水平面所呈夹角的一理论夹角值。

10.根据权利要求9所述的工件校验方法，其特征在于，所述待校验工件根据一加工图纸加工获得；

所述理论差值根据所述加工图纸计算获得；所述理论夹角值根据所述加工图纸获得。

11.根据权利要求8所述的工件校验方法，其特征在于，所述最高点高度和所述测量面高度通过一高度仪测量获得。

12.一种基于权利要求8～11任一项所述的工件校验方法的工件加工方法，包括步骤：

S1’：将所述工件校验装置的尺寸标注入所述加工图纸；

S2’：根据所述加工图纸加工获得待校验工件；

S3’：根据所述工件校验方法校验所述待校验工件；

S4’：如校验结果为加工合格将所述工件送入下一工序，否则返回步骤S2’。