[发明专利]一种显示基板的检测方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示技术领域，特别是涉及一种显示基板的检测方法及装置。

背景技术

液晶显示器的主体结构为液晶面板，液晶面板包括彩膜基板和阵列基板，在彩膜基板或阵列基板上形成规则排列的隔垫物(包括主隔垫物和辅助隔垫物)，用于支撑面板的盒厚，并保证液晶面板盒厚的均一性。

由于在隔垫物工艺存在隔垫物异物和隔垫物缺失等问题，严重影响隔垫物的良率，因此需要对隔垫物进行检查。现有技术中，对于隔垫物的检测主要是通过CCD(Charge-coupled Device，即电荷耦合元件)镜头获取隔垫物的图像，之后再获取5个隔垫物采样点的灰度值，并根据这些灰度值来对隔垫物进行检测。具体的，如图9所示，采集5个隔垫物采样点的灰阶为A1，A2，A3，A4，A5。其中A2，A3，A4，A5为参考点，A1为比较点，A2，A3，A4，A5为与A1相同类型的隔垫物，并位于A1四周且与A1相邻。取上述5个点中间值，假设这5点的灰阶大小关系为：A2<A3<A5<A4<A1。则中间值为：A5。当|A1-A5|>Threshold Value(阈值)时，A1点为缺陷点。当|A1-A5|<Threshold Value时，A1点为正常点。但是，当存在大范围面积的隔垫物缺失时，将无法检出。

因此，大范围面积的隔垫物缺失，甚至隔垫物排列偏移其标准位置，都会导致隔垫物的检测存在很大的漏检和误检，而且隔垫物的缺失对液晶面板的稳定性有较大影响，因此需对隔垫物是否缺失进行检测。现有技术中，并没有针对隔垫物的缺失或偏移其标准位置进行检测的方法。

发明内容

本发明提供一种显示基板的检测方法及装置，用以对显示基板上隔垫物的缺失进行检测。

为解决上述技术问题，本发明提供一种显示基板的检测方法，所述显示基板上形成有按预设规则分布的隔垫物，所述检测方法包括对隔垫物进行检测的步骤，其中，所述对隔垫物进行检测的步骤包括：

采集显示基板的第一图像，所述第一图像中具有按所述预设规则分布的隔垫物图像，相邻的第一隔垫物图像和第二隔垫物图像中，所述第一隔垫物图像包括第一设定点p₁，所述第二隔垫物图像包括第二设定点p₂；

获取第一设定点p₁和第二设定点p₂之间的距离；

将所述距离与预设的距离进行比较，确定第一隔垫物和第二隔垫物之间是否缺失隔垫物。

如上所述的检测方法，优选的是，获取第一设定点p₁和第二设定点p₂之间的距离具体为：

在所述第一图像中建立第一平面坐标系，所述第一设定点p₁和第二设定点p₂位于所述第一平面坐标系内，根据第一设定点p₁和第二设定点p₂在所述第一平面坐标系内的坐标，来计算第一设定点p₁和第二设定点p₂之间的距离。

如上所述的检测方法，优选的是，所述第一设定点p₁在所述第一平面坐标系内的坐标为(x₁，y₁)，所述第二设定点p₂在所述第一平面坐标系内的坐标为(x₂，y₂)；

当|y_n-y₁|≤D₁，且|y_n-y₂|≤D₁时，设定所述第一设定点p₁和第二设定点p₂在所述第一平面坐标系内的预设纵坐标为y_n，第一设定点p₁和第二图像点设定点p₂的实际距离用D₂＝|x₁-x₂|表示，其中，n为正整数；

设定第一设定点p₁和第二设定点p₂的预设距离为D，第一设定点p₁和第二设定点p₂偏移其预设横坐标的最大距离为iD，其中，i≤1/6；

当第一隔垫物和第二隔垫物与显示基板的边缘均有隔垫物时，则：

1)当D₂≤D时，第一隔垫物和第二隔垫物之间不缺失隔垫物；