[发明专利]一种光检测方法及电子设备

说明书

技术领域

本发明涉及光检测技术，尤其涉及一种光检测方法及电子设备。

背景技术

滤色片(CF，ColorFilter)是用来实现色彩显示的主要器件，互补金属氧化物半导体(CMOS，ComplementaryMetalOxideSemiconductor)作为感光材料，可以检测经CF过滤的光线的强度。目前，面阵形式的CMOS感光器件感光效率较低，原因在于经CF过滤的光线最多只占原有光线的1/3。然而，若扩大单一颜色的感光面积，又会降低颜色的分辨率。

发明内容

为解决上述技术问题，本发明实施例提供了一种光检测方法及电子设备。

本发明实施例提供的光检测方法应用于电子设备中，所述电子设备具有光子晶体层、感光层；所述光检测方法包括：

利用所述光子晶体层透射出第一光线的第一部分，以及反射出所述第一光线的第二部分；所述第一光线由所述第一部分和所述第二部分组成，所述第二部分的光波波长为第一波长；

利用所述感光层获取所述第一部分的光强值；

获取N次所述第一部分的光强值，并基于得到的N个光强值计算所述第一光线的基色光参数，N≥3。

本发明实施例提供的电子设备具有光子晶体层、感光层；所述电子设备还包括：

第一处理单元，用于利用所述光子晶体层透射出第一光线的第一部分，以及反射出所述第一光线的第二部分；所述第一光线由所述第一部分和所述第二部分组成，所述第二部分的光波波长为第一波长；

获取单元，用于利用所述感光层获取所述第一部分的光强值；

第二处理单元，用于获取N次所述第一部分的光强值，并基于得到的N个光强值计算所述第一光线的基色光参数，N≥3。

本发明实施例的技术方案中，电子设备中具有光子晶体层和感光层；利用光子晶体层可以透射出第一光线的第一部分，以及反射出所述第一光线的第二部分；所述第一光线由所述第一部分和所述第二部分组成，所述第二部分的光波波长为第一波长；如此，实现了光子晶体层对某一种波长的光进行反射，而对其余波长的光进行透射；光子晶体层透射出来的光混合多种波长的光，且透射出来的光占第一光线的比例远大于1/3，而感光层可以对由光子晶体层透射出来的第一部分的光进行感光，进而获得其光强值，可见，感光层的感光效率及分辨率得到大大提高；最后，获取N次所述第一部分的光强值，并基于得到的N个光强值计算所述第一光线的基色光参数，进而实现第一光线的显示成像。

附图说明

图1为本发明实施例一的光检测方法的流程示意图；

图2为本发明实施例二的光检测方法的流程示意图；

图3为本发明实施例三的光检测方法的流程示意图；

图4为本发明实施例四的光检测方法的流程示意图；

图5为本发明实施例五的光检测方法的流程示意图；

图6为本发明实施例一的电子设备的结构组成示意图；

图7为本发明实施例二的电子设备的结构组成示意图；

图8为本发明实施例三的电子设备的结构组成示意图；

图9为本发明实施例四的电子设备的结构组成示意图；

图10为本发明实施例五的电子设备的结构组成示意图；

图11为本发明实施例的第一光线的光路示意图。

具体实施方式

为了能够更加详尽地了解本发明实施例的特点与技术内容，下面结合附图对本发明实施例的实现进行详细阐述，所附附图仅供参考说明之用，并非用来限定本发明实施例。

图1为本发明实施例一的光检测方法的流程示意图，本示例中的光检测方法应用于电子设备中，所述电子设备具有光子晶体层、感光层；如图1所示，所述光检测方法包括以下步骤：

步骤101：利用所述光子晶体层透射出第一光线的第一部分，以及反射出所述第一光线的第二部分。

其中，所述第一光线由所述第一部分和所述第二部分组成，所述第二部分的光波波长为第一波长。

本发明实施例中，所述电子设备可以是手机、平板电脑、笔记本电脑等电子设备，该电子设备中具有如摄像机、色温传感器等装置，这类装置具有光子晶体层和感光层。

参照图11，光子晶体层由光子晶体材料组成，光子晶体材料具有特殊的晶格结构，具体地，光子晶体材料是由两种以上折射率不同的材料在空间按一定周期性排列形成的光学材料；光子晶体可以控制光子的运动，当一束光射入光子晶体层时，光子晶体层选择一定波长的光进行反射，而其余波长的光进行透射。