[发明专利]GaN基LED外延结构及其制造方法有效
申请号: | 201410299430.8 | 申请日: | 2014-06-27 |
公开(公告)号: | CN104332539B | 公开(公告)日: | 2017-10-24 |
发明(设计)人: | 曹永革;刘著光;邓种华;陈剑;李军廷;费斌杰;郭旺;唐飞;黄秋凤;袁轩一 | 申请(专利权)人: | 中国科学院福建物质结构研究所 |
主分类号: | H01L33/08 | 分类号: | H01L33/08;H01L33/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 倪斌 |
地址: | 350002 *** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | gan led 外延 结构 及其 制造 方法 | ||
1.一种GaN基LED外延结构,包括:
衬底;
在所述衬底上外延生长的GaN基LED外延结构,
其中所述衬底是含光致发光荧光材料的衬底,其中所述衬底包括稀土元素掺杂的石榴石系列Re3Al5O12衬底与Al2O3衬底键合之后得到的衬底。
2.根据权利要求1所述的GaN基LED外延结构,其中所述稀土元素掺杂的Re3Al5O12衬底包括Re3Al5O12陶瓷衬底或单晶衬底。
3.根据权利要求2所述的GaN基LED外延结构,其中所述Re3Al5O12陶瓷衬底包括多晶Re3Al5O12陶瓷衬底或织构化Re3Al5O12陶瓷衬底。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的GaN基LED外延结构,其中所述衬底包括精细抛光后其表面粗糙度小于10nm的衬底。
5.根据权利要求1至3中任一项所述的GaN基LED外延结构,其中所述GaN基LED外延结构依次包括低温AlN缓冲层、低温GaN缓冲层、GaN缓冲层、n型GaN层、AlGaN阻挡层、InGaN/GaN多量子阱发光层、AlGaN阻挡层、P型GaN层和高掺杂p型GaN电极接触层。
6.根据权利要求1至3中任一项所述的GaN基LED外延结构,其中所述稀土元素Re选自Ce、Gd、Eu、Er、Nd、Tb、Sm、Tm、Dy或Yb中的一种或任意几种。
7.根据权利要求1至3中任一项所述的GaN基LED外延结构,其中所述GaN基LED外延结构包括在稀土元素掺杂的Re3Al5O12陶瓷或单晶或键合衬底上进行图案化处理并侧向外延生长的GaN基LED外延结构。
8.一种制造GaN基LED半导体器件的方法,包括:
准备包含光致发光荧光材料的衬底;
将稀土元素掺杂的石榴石系列Re3Al5O12陶瓷衬底与Al2O3衬底键合;以及
在所述衬底上外延生长GaN基LED外延结构。
9.根据权利要求8中所述的方法,其中所述稀土元素掺杂的Re3Al5O12衬底包括Re3Al5O12陶瓷衬底或单晶衬底。
10.根据权利要求9所述的方法,其中所述Re3Al5O12陶瓷衬底包括多晶Re3Al5O12陶瓷衬底或织构化Re3Al5O12陶瓷衬底。
11.根据权利要求8至10中任一项所述的方法,在外延生长之前还包括:将准备好的衬底精细抛光后其表面粗糙度小于10nm。
12.根据权利要求8至10中任一项所述的方法,其中所述GaN基LED外延结构依次包括低温AlN缓冲层、低温GaN缓冲层、GaN缓冲层、n型GaN层、AlGaN阻挡层、InGaN/GaN多量子阱发光层、AlGaN阻挡层、P型GaN层和高掺杂p型GaN电极接触层。
13.根据权利要求8至10中任一项所述的方法,其中所述稀土元素Re选自Ce、Gd、Eu、Er、Nd、Tb、Sm、Tm、Dy或Yb中的一种或任意几种。
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